[发明专利]光学数据存贮介质无效

专利信息
申请号: 99104884.9 申请日: 1992-05-04
公开(公告)号: CN1239281A 公开(公告)日: 1999-12-22
发明(设计)人: 哈尔·J·罗森;库尔特·A·鲁宾;蒂莫西·C·斯特兰德;格伦·T·辛尔库克;詹姆斯·M·扎维斯兰;玛格丽特·E·贝斯特 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 蒋世迅
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 数据 存贮 介质
【说明书】:

本申请是1995年1月20日提交的95101437.4号申请的分案申请。

本发明一般涉及光学数据存贮介质,更具体地说,涉及用在光学数据存贮系统中的光学数据存贮介质。

光学数据存贮系统提供了一种在盘上大量存贮数据的装置,通过把一激光束会聚到盘的数据层上并检测反射光束来对这些数据进行存取。已知的系统有多种,在ROM(只读存贮器)中,数据是在制作盘时以盘内的标记的形式永久性地装入盘内的。通过检测激光束照过数据标记时反射率的变化来检测数据。WORM(一次写入多次读出)系统使用户可以通过在空白光盘表面上作标记,如凹穴,来写入数据。一旦把数据记到盘上就无法将其擦掉。WORM系统中的数据也是通过反射率的变化来检测的。

可擦光学系统也已公知。这些系统利用激光把数据层加热至临界温度以上来写入或擦掉数据。磁光记录系统通过使一处的磁畴取向向上或向下位置来记录数据。通过把一束低功率激光照到数据层上来读取数据。磁畴方向的不同导致光束极化平面朝某一方向偏转或顺时针或逆时针。这种极化取向的变化被检测出来。相变记录利用数据层本身的结构变化(非晶/晶体是两种常见的相)来记录数据。通过检测光束通过不同相时反射率的变化来检测数据。

为增加光盘的存贮容量,提出了多数据层系统。理论上,对有两或更多数据层的光盘可通过改变透镜的聚焦位置来对不同的层进行存取。这方面的例子包括1976年3月23日公布的Wohlmul等人的美国专利3,946,367号;1980年8月26日授予Russel的美国专利4,219,704号;1984年5月22日授予Holster等人的美国专利4,450,553号;1990年2月27日授予Hattori等人的美国专利4,905,215号;Watanabe等人的于1988年11月15日公开的日本公开申请63-276732;以及1987年7月的“IBM技术公开公报”第30卷,第2号,667页,Arter等人(IBM Technical Disclosure Bulletin,Vol、30,No.2,P667,July 1987)。

这些先有技术系统的问题在于在有一个以上数据层时很难清晰地读取记录的数据。来自于其他层的干扰信号极大地降低了读取能力。另外,在不同深度的聚焦及产生跟踪信号方面也有许多问题。需有有一种能克服这些问题的光学数据存贮系统。

因此,本发明的一个目的是克服这些问题和在现有技术中遇到的其它困难。本发明的另一个目的是提供一种具有多个数据表面的光学数据存贮介质。

在本发明的一个较优实施例中,一光学数据存贮系统包括一个光盘驱动器和一个多数据表面光学介质。该介质带有多个由空气空间分隔的基片部件。基片部件与空气空间相邻的表面为数据表面。数据表面为高透射性的,但最后一数据表面除外并可以包含一反射层。各数据表面都有跟踪标记。

盘驱动器包括产生激光的激光器。一光传送通道把光导向介质该传输通道包括用于把光聚到不同数据表面上的会聚部件和修正因有效基片厚度的变化引起的象差的象差补偿器部件。一接收通道接收来自介质的反射光。该接收通道包括滤除反射自所读取的数据表面以外的其他表面的杂光的滤光器部件。接收通道带有接收反射光的检测器及产生数据及响应该数据的伺服信号的电路。

特别地,本发明的技术方案如下:

一种光学数据存贮介质,包括:

第一电磁辐射透射元件,具有含用于存贮记录的数据的光学介质的第一数据表面;及

第二元件,具有含用于存贮记录的数据的光学介质的第二数据表面,

其特征在于,

第一数据表面具有的数据是以基本上圆形的纹道记录的并且可以通过电磁辐射束检测;

第二数据表面具有的数据是以基本上圆形的纹道记录的并且可以通过电磁辐射束检测;

包括一个连接装置,用于把第一元件和第二元件连接在一起,使数据表面间成间隔开的关系;及

在第一数据表面上记录的数据包含识别含在第一和第二数据表面上的光学介质的类型的信息。

对本发明的本质及优点的更详细了解可由下面结合附图所作的详细说明获得。

图1是本发明的光学数据存贮系统的示意图;

图2A是本发明的光学介质的剖视图;

图2B是另一种光学介质的剖视图;

图3A是图2介质的跟踪标记的剖视图;

图3B是另一种跟踪标记的剖视图;

图3C是又一种跟踪标记的剖视图;

图3D是再一种跟踪标记的剖视图;

图4是本发明的光头和介质的示意图;

图5是图4中光检测器的俯视图;

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