[发明专利]半导体器件

权利要求书

1、一种用来确定一延迟时间的半导体器件，包括：

多个相互串接的延迟电路，一个延迟电路通过二个相邻的延迟电路之间的连接点与另一延迟电路相连；

选择装置，用来选择多个参考延迟信号中的一个，这些信号中的每一个信号自二个相邻的延迟电路之间的连接点所提供；和

确定装置，用来根据所选择的参考延迟信号中的一个信号有选择地确定该延迟时间。

2、一种半导体器件，用来通过选择多个参考延迟信号中的一个信号来改变一延迟时间，该多个参考延迟信号是从相互串接的多个延迟电路的连接点所产生的，该半导体器件进一步包括：

参考脉冲产生装置，用来产生具有的一时间间隔是在第一和第二定时信号之间并且是等于一予置延迟时间的在第一定时和第二定时处的信号；

延迟比较装置，用来与第二定时、由所允许的在通过该延迟电路的第一定时处所产生的信号所产生的多个参考延迟信号相比较，以获得比较的结果；

延迟设置装置，用来根据在该延迟比较装置中的比较结果选择该参考延迟信号中的一个，以根据所选择的参考延迟信号中的一个信号确定该延迟时间。

3、如权利要求2的半导体器件，其中该参考脉冲产生装置包括：

一产生时钟信号的振荡器；

一对该时钟信号计数的计数器；

一比较器，用来检测该计数器的一值是否变为予置值，当检测到该值和予置值之间相一致时产生一检测信号。

4、如权利要求3的半导体器件，其中该参考脉冲产生装置包括一置位一复位触发器，该触发器当延迟置位操作开始时提供所置位信号的第一定时和响应于自比较器所传送的检测信号提供被复位信号的第二定时。

5、如权利要求2的半导体器件，其中该参考脉冲产生装置包括：

一计数器，由用于启始一延迟置位操作的信号复位；

一第一比较器，检测该计数器的一值是否变得等于第一值，和当该值与第一值之间相一致时在第一定时处产生一致信号；和

一第二比较器，检测该计数器的一值是否变得等于第二值，和当该值与第二值之间相一致时在第二定时处产生一致信号。

6、如权利要求1的半导体器件，其中该延迟确定装置包括：

多个数据保持装置，每一个数据保持装置被提供参考延迟信号，在第二定时处接收和保持该参考延迟信号。

7、如权利要求6的半导体器件，其中该数据保持装置包括一触发器。

8、如权利要求2的半导体器件，其中该延迟置位装置包括：

延迟检测装置，用来检测一最接近于予置延迟时间的参考延迟信号；和

置位开关，用来根据该延迟检测装置的一输出设置多个参考延迟信号中的一个信号。

9、如权利要求8的半导体器件，其中该延迟检测装置选择其最接近于予置延迟时间而不超过该予置延迟时间的参考延迟信号。

10、如权利要求9的半导体器件，其中该延迟检测装置包括：

第一置位装置，响应于参考延迟信号，用来产生信号的第一逻辑电平；

第二置位装置，响应于参考延迟信号，用来产生信号的第二逻辑电平；和

一“与”电路，用来执行在第一置位装置的一输出和第二置位装置的一输出的反相之间的“与”操作。

11、如权利要求8的半导体器件，其中该延迟检测装置选择一其为最接近于予置延迟时间而超过该予置延迟时间的参考延迟信号。

12、如权利要求11的半导体器件，其中该延迟检测装置包括：

第一置位装置，响应于该参考延迟信号，用来产生信号的第一逻辑电平；

第二置位装置，响应于该参考延迟信号，用来产生信号的第二逻辑电平；

一“与”电路，用来在第一置位装置的一输出的反相和第二置位装置的一输出之间执行“与”操作。