[发明专利]包括至少两个同轴轮的设备和用来探测其角位置的装置以及用来探测此角位置的方法有效
申请号: | 99110036.0 | 申请日: | 1999-06-29 |
公开(公告)号: | CN1240929A | 公开(公告)日: | 2000-01-12 |
发明(设计)人: | P·A·法里纳;J·J·波恩;E·波纳斯科尼 | 申请(专利权)人: | 阿苏拉布股份有限公司 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曾祥凌,林长安 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包括 至少 两个 同轴 设备 用来 探测 位置 装置 以及 方法 | ||
1.小尺寸设备,特别是钟表型的设备,此设备包括同轴的第一轮(6;4)和第二轮(4;6;68),它们可旋转地围绕同一几何转动轴线(8)安装,并分别包括垂直于此几何转动轴线的第一板(6A,46;44)和第二板(4A,44;46;70),此设备还包括用来探测此第一轮的第一基准几何半轴线(30;60A)的角位置和第二轮的第二基准几何半轴线(38;54A)的角位置的装置(10),所述设备的特征在于,上述用来探测第一和第二半轴线角位置的装置是由单个的同一的磁性或电容式传感器(10)构成,后者设有元件(14)用来探测在此元件之上或下活性材料的存在,上述第一板包括至少一个对于此传感器为非活性的区(6B,55至58;47至50),所述第一和第二板至少部分是由对于此传感器为活性的材料形成,所述传感器相对于前述第一轮布置成使得它的探测元件在此第一轮的至少一个测定的角位置中至少是部分地位于所述第一非活性区之上或之下。
2.权利要求1所述的设备,其特征在于,所述传感器(10)响应活性材料在前述探测元件(14)之上或之下的存在这一方面的变化,而在此传感器的至少一个参数或变数上产生变化,由此提供的测量信号取决于该变化,上述第一非活性区(6B,55至58;47至50)所具有的尺寸能使所述探测元件在所述的测定的角位置处至少有大部分是面对前述第一非活性区的。
3.权利要求1或2所述的设备,其特征在于,所述第一非活性区是由设在第一板(6A;46;44)上的第一孔口(6B,55至58;47至50)所限定的。
4.权利要求3所述的设备,其特征在于,所述第一和第二板是由对所述传感器为活性的材料形成,第二板(4A,44;46;70)具有至少一个第二孔口(4B,47至50;55至58;72,74),而探测元件(14)则布置成使其在所述第二轮的至少一个测定的角位置处至少是部分地位于所述第二孔口之上或之下。
5.权利要求4的设备,其特征在于,所述第一半轴线(30,60A)和相应的第二半轴线(38;54A),是由一径向射线确定,此径向射线从所述几何转动轴线开始,同时,或是基本上通过所述第一孔口(6B)、相应的第二孔口(4B)的几何中心,或是由所述第一孔口、相应的第二孔口(83)的径向边缘(86,88)确定,或者与所述第一板(46)、相应的第二板(44)的活性材料所形成的部分的中线一致,在所述第一板,相应的第二板的两个非活性区之间径处延伸。
6.如上述任一项权利要求所述的设备,其特征在于,所述传感器(10)包括一支承件(12),在此支承件的表面上布置着所述的探测元件(14),此支承件布置成与所述第一板(6A,46)面对,第二板(4A;44)相对此支承件位于所述第一板的另一侧上,此传感器安排成当所述第一轮(6)处于所述测定的角位置时来探测在此探测元件之上至少是部分形成所述第二板的活性材料的存在。
7.权利要求1至5中任一项所述的设备,其特征在于,所述传感器(10)包括在其表面上用来设置所述探测元件(14)的支承件(12),此支承件设在第一和第二板(44;46;64;70)之间,此探测元件则面对所述第一板(44;46)。
8.权利要求7所述的设备,其特征在于,此设备还包括有与所述第一和第二轮同轴的第三轮(4),该第三轮包括垂直于所述几何转动轴线的第三板(44),此第三轮确定出第三基准几何半轴线,后者的角位置可以由所述磁性或电容式传感器探测,上述第三板相对于此传感器的支承件(12)位于所述第一板(46)的另一侧上,且至少部分是由对此传感器为活性的材料形成,此传感器安排成用来探测当所述第一轮(6)处于所述测定的角位置时,在此探测元件之上或下至少是部分形成所述第三板的活性材料的存在。
9.权利要求8所述设备,其特征在于,所述第二板(70)包括至少一个对所述传感器而言的第二非活性区(72,74),后者设置成使所述探测元件在所述第二轮的至少一个测定的角位置处至少是大部分位于上述第二非活性区之上或之下。
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