[发明专利]半导体集成电路无效

专利信息
申请号: 99110304.1 申请日: 1999-07-08
公开(公告)号: CN1256565A 公开(公告)日: 2000-06-14
发明(设计)人: 濑川裕司;后藤邦彦 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H04L7/02 分类号: H04L7/02;H03L7/08
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 付建军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 集成电路
【权利要求书】:

1.一种半导体集成电路,包括:

用于根据指定信号输出同步信号的压控振荡器;

相位比较单元,用于接收指定信号及所述压控振荡器输出的反馈信号,比较指定信号与反馈信号的相位,并输出表示比较结果的比较信号给所述压控振荡器;

用于检测指定信号的振荡状态的振荡状态检测器;及

信号开关,用于把指定信号或比较信号切换到一个信号,该信号用于根据所述振荡状态检测器检测到的振荡状态维持振荡及维持从所述压控振荡器输出的同步信号。

2.根据权利要求1的半导体集成电路,其中所述的振荡状态检测器检查指定信号的存在,及/或指定信号的频率,当没有输入指定信号时,或当指定信号的频率在预先规定的范围之外时输出检测信号,用来表示指定信号的振荡状态不满足预先规定的要求;及

所述的信号开关根据从所述的振荡状态检测器输出的检测信号切换规定的信号或比较信号。

3.根据权利要求2的半导体集成电路,其中所述的振荡状态检测器包括:

计数器,用于在规定的时间内根据外部时钟计算指定信号的脉冲数量或在规定的时间内根据指定信号计算一些外部时钟的脉冲数量;及

条件比较单元,用于将由所述的计数器计算的脉冲数量或外部时钟数量与表示预定信号频率的预定范围的比较目标值相比较,并输出条件比较信号;

其中所述的振荡状态检测器根据条件比较信号输出检测信号。

4.根据权利要求1的半导体集成电路,其中所述的压控振荡器是在内部提供的,以形成PLL(锁相环)。

5.一种半导体集成电路,包括:

用于根据指定信号输出同步信号的压控振荡器;

相位比较单元,用于接收指定信号和所述压控振荡器输出的反馈信号,比较指定信号与反馈信号的相位,并输出表示比较结果的比较信号给所述压控振荡器;

用于检测所述指定信号的振荡状态的振荡状态检测器;及

信号开关,用于根据被所述的振荡状态检测器检测到的振荡状态把指定信号切换成具有规定的频率的预先准备的信号。

6.根据权利要求5的半导体集成电路,其中所述的振荡状态检测器检查指定信号的存在,及/或指定信号的频率,当没有输入指定信号时,或当指定信号的频率在预先规定的范围之外时输出检测信号,用来表示指定信号的振荡状态不满足预先规定的要求;及

所述的信号开关根据从所述的振荡状态检测器输出的检测信号切换规定的信号或比较信号。

7.根据权利要求6的半导体集成电路,其中所述的振荡状态检测器包括:

计数器,用于在规定的时间内根据外部时钟计算指定信号的脉冲数量或在规定的时间内根据指定信号计算一些外部时钟的脉冲数量;及

条件比较单元,用于将由所述的计数器计算的脉冲数量或外部时钟数量与表示预定信号的频率的预定范围的比较目标值相比较,并输出条件比较信号;

其中所述的振荡状态检测器根据条件比较信号输出检测信号。

8.根据权利要求5的半导体集成电路,其中所述的压控振荡器是内部提供的,以形成PLL(锁相环)。

9.一种半导体集成电路,包括:

用于根据指定信号输出同步信号的压控振荡器;

相位比较单元,用于接收指定信号和所述压控振荡器输出的反馈信号,比较指定信号与反馈信号的相位,并输出表示比较结果的比较信号给所述压控振荡器;

用于检测指定信号的振荡状态的振荡状态检测器;及

信号开关,用于把比较信号切换成根据由所述振荡状态检测器检测到的振荡状态、依靠恒压源或恒流源产生的信号。

10.根据权利要求9的半导体集成电路,其中所述的振荡状态检测器检查指定信号的存在,及/或指定信号的频率,当没有输入指定信号时,或当指定信号的频率在预先规定的范围之外时输出表示指定信号的振荡状态不满足预先规定的要求的检测信号;及

所述的信号开关根据从所述的振荡状态检测器输出的检测信号切换规定的信号或比较信号。

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