[发明专利]自动分析痕量物质的方法和装置无效
申请号: | 99110962.7 | 申请日: | 1999-06-29 |
公开(公告)号: | CN1247308A | 公开(公告)日: | 2000-03-15 |
发明(设计)人: | 筱崎勉;下林胜;佐藤右一 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | G01N30/04 | 分类号: | G01N30/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王忠忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 痕量 物质 方法 装置 | ||
1.一种自动分析痕量物质的装置,包括:
(a)采样器,用于在不同的采样点进行采样,每个所说的采样包含一种痕量物质;
(b)浓缩器,用于浓缩包含在所说的采样中的痕量物质,由此制作浓缩试样;
(c)一个定量分析器,用于定量分析包含在所说的浓缩试样中的所说的物质;和
(d)一个控制器,用于控制所说的采样器、所说的浓缩器和所说的分析器以在特定的时间段内自动地、反复地产生所说的采样器、所说的浓缩器和所说的分析器的操作;
其中每个所说的浓缩器从所说的采样器之中的至少两个采样器中交替地接收所说的采样;
以及其中所说的分析器从所说的浓缩器中交替地接收所说的浓缩试样。
2.如在权利要求1中所要求的装置,其特征在于所说的需检测的物质为气体和每个所说的浓缩器具有一个扩散式洗涤器和一个浓缩柱。
3.如在权利要求1中所要求的装置,其特征在于所说的需检测的物质为气体和每个所说的浓缩器具有四个扩散式洗涤器和两个浓缩柱。
4.如在权利要求1中所要求的装置,其特征在于所说的理想的分析器具有离子色谱仪的功能。
5.如在权利要求1中所要求的装置,其特征在于所说的控制器具有监测所说的物质的爆发一种高浓度状态的功能。
6.如在权利要求1中所要求的装置,其特征在于所说的控制器具有计算在一特定时间段内所说的物质的积累总量的功能。
7.如在权利要求1中所要求的装置,其特征在于进一步包括一清洁器,该清洁器通过输送清洗气体到所说的采样器中来清洁所说的采样器。
8.如在权利要求7中所要求的装置,其特征在于所说的清洁器由一盛放所说的清洗气体的容器和一为所说的采样和所说的清洗气体选择一流动路径的阀组成。
9.如在权利要求1中所要求的装置,其特征在于每个所说的扩散式洗涤器具有一个通过提供一种清洗气体来清洁该部件的清洁器。
10.如在权利要求1中所要求的装置,其特征在于分析操作包括:
(a)预处理操作,即输送一种吸收液到至少一个所说的采样器以抑制在一在先测量步骤中产生的所说的物质的残留物的影响;
(b)漂洗操作,即漂洗掉残留在某一个所说的浓缩器中的洗脱液;
(c)采样操作,即所说的采样器产生所说的采样和所说的浓缩器产生所说的浓缩试样;和
(d)分离/分析操作,即从所说的试样中分离所说的物质并定量分析所说的分离物质;
其中所说的分离/分析操作时间等于所说的漂洗操作时间和所说的采样操作时间的总和。
11.如在权利要求7中所要求的装置,其特征在于分析操作包括:
a)清洁操作,即应用所说的清洗气体来清洁所说的采样器;
b)预处理操作,即输送一种吸收液到至少一个所说的采样器以抑制在一在先测量步骤中产生的所说的物质的残留物的影响;
c)漂洗操作,即漂洗掉残留在某一所说的浓缩器中的洗脱液;
d)采样操作,即所说的采样器产生所说的采样和所说的浓缩器产生所说的浓缩试样;和
e)分离/分析操作,即从所说的试样中分离所说的物质并定量分析所说的分离物质;
其中所说的分离/分析操作时间等于所说的清洁操作时间和所说的预处理操作时间的总和。
12.一种自动分析痕量物质的装置,包括:
a)一个采样器,用于在一采样点处产生包含需检测的物质的采样,
所说的采样器包括一个扩散式洗涤器;
b)一个浓缩器,用于浓缩包含在所说的采样中的所说的物质并由此制作一浓缩试样,
所说的浓缩器包括一浓缩柱;
c)一个定量分析器,用于定量分析包含在所说的浓缩试样中的所说的物质;
d)一个清洁器,通过应用一种清洗气体来清洁所说的采样器;和
e)一个控制器,用于控制所说的采样器、所说的浓缩器、所说的分析器和所说的清洁器以特定的时间间隔反复地、自动地产生所说的采样器、所说的浓缩器、所说的分析器和所说的清洁器的操作。
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