[发明专利]电子元件的测试方法和电子元件测试装置无效
| 申请号： | 99117943.9 | 申请日： | 1999-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN1138984C | 公开（公告）日： | 2004-02-18 |
| 发明（设计）人： | 小林义仁 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 杜日新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 方法 装置 | ||
【权利要求书】：
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