[发明专利]光信息记录和重放设备

说明书

本发明涉及光信息记录和重放设备，该设备使用光束在具有透明保护层的光信息记录媒体上进行记录和重放。

迄今为止，已知提供一种光信息记录和重放设备，它使用光束在具有透明保护层的光信息记录媒体上进行光信息记录和重放。其中，通过扫描光点来进行记录和重放，光点的中心偏离在光信息记录媒体上的信息光道的中心线。在公开号为8-77583的日本未审查专利公告中揭示了这种类型的光信息记录和重放设备的一例。下面将描述该设备的结构和特征。

图7是示出一种可重写磁光盘设备的结构的图。在图7中，标号41是磁光盘，它是信息记录媒体，由在其上形成有磁性薄膜42的玻璃或塑料透明基片构成。磁光盘41置于主轴电动机43的旋转轴上，并且藉助于主轴电动机43的旋转而以预定的速度旋转。光头44设置在光信息记录媒体41的下方，而偏置磁铁53设置在媒体上方的与光头44相对的位置处。

光头44包含半导体激光器45，它用作记录和重放的光源。在记录信息时，由激光器驱动电路(未示出)按照要被写的信息信号来调制半导体激光器45的光束。从半导体激光器45发出的光束首先由准直透镜46变成平行光，然后通过偏振分束器47，并且进入物镜48。物镜48会聚入射光束，并且在磁光盘41的磁性薄膜42上聚焦成极其微小的光点。与此同时，由偏置磁铁43对磁光盘41施加沿特定方向取向的磁场，而由施加此磁场和投射经过调制的光束记录一系列信息比特。

投射在磁光盘41上的光束在其媒体表面处被反射。反射光再次通过物镜48，并且进入偏振分束器47，在该偏振分束器的偏振面处，光线朝着分束器49被反射，于是与来自半导体激光器45的光线分离。反射入分束器49的光束被分成两束，其中一束通过检测器透镜50，并且由光敏器件51接收。藉助与下面要描述的自动跟踪(AT)偏置电路59，把光敏器件51接收到的光信号馈送给自动跟踪/自动聚焦(AT/AF)电路52。根据此信号，AT/AF电路产生跟踪误差信号和聚焦误差信号。使用如此产生的跟踪误差信号和聚焦误差信号，通过驱动物镜调节器54而进行跟踪控制和聚焦控制，并且由此沿跟踪和聚焦方向移动物镜48。

另一方面，当重放记录在磁光盘41上的信息时，把半导体激光器45的光束设定在读取功率，其强度不足以影响已经记录的信息，而把此读出光束引至所要的光道，以读取已经记录的信息。说得更详细些，从光信息记录媒体的表面反射的读取光束通过物镜48、偏振分束器47、分束器49和检测器透镜55，并由光敏器件56接收。

接下来，将描述光道偏离(off-track)控制。标号57是幅值检测电路，用于根据接收到的光敏器件56的信号来检测重放信号的幅值。当判定读取光束的光道偏离的方向以及当判定其光道偏离量时，幅值检测电路57检测串扰(crosstalk)和重放信号的幅值。把检测得的值藉助于包含在CPU58中的模拟-数字(A/D)转换器馈入该CPU58。CPU58是用于控制设备的各个部分的处理器电路。当把磁光盘41装入设备时，CPU58控制各个部分，以控制读取光束的光道偏离的方向和光道偏离量。根据来自CPU58的指令，AT偏置添加电路59施加一个偏置至AT/AF电路52，以使读取光束沿所需的方向以所需的量偏离光道而位移。

下面描述用于判定光道偏离的方向的装置。如图8(a)所示，当磁光盘41相对于物镜48朝其外周边倾斜时，在盘面上的主光点801a外的位置处形成新月形的次级光点801b，并且该光点朝外周边位移，导致来自外光道的串扰增加。另一方面，如图8(b)所示，当磁光盘41相对与物镜48朝其内周边倾斜时，在盘面上的主光点802a外的位置处形成新月形的次级光点802b，并且该光点朝内周边位移，导致来自内光道的串扰增加。

因此，通过测量来自相邻光道的每个光道的串扰的量，能够识别磁光盘41相对于物镜48的倾斜方向，因而能够判定光点偏离光道以减少串扰量的方向。说得更详细些，在图8(a)的情形中，判定外周边方向为光道偏离方向，而在图8(b)的情形中，判定内周边方向为光道偏离的方向。

下面将描述一个判定光道偏离方向的现有技术的例子。在磁光盘上设置的测试区域中记录有最长的码型信号(pattern signal)。然后，重放其相邻的光道，并且比较重放信号的幅值。根据比较的结果，能够识别光信息记录媒体的相对倾斜方向，于是能够判定光点的偏离光道以减少串扰量的方向。

接下来，将要描述用于判定光道偏离量的装置。当改变光道偏离量时，以预定的次数把读取光束投射在测试区域的光道上，在那里记录有最长的码型信号。根据在此时刻检测的重放信号或者根据从特定的光道漏出的串扰量(它通过重放相邻的光道得到)获得光道偏离量。