[发明专利]自由流动研磨孔抛光无效
申请号: | 99126912.8 | 申请日: | 1999-12-21 |
公开(公告)号: | CN1261019A | 公开(公告)日: | 2000-07-26 |
发明(设计)人: | J·S·肖 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | B24C3/32 | 分类号: | B24C3/32 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张天安,黄力行 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自由 流动 研磨 抛光 | ||
1.抛光孔(20)的方法,该孔具有确定孔的壁(22),该方法包括下列步骤:
提供许多研磨颗粒(12);
使许多研磨颗粒(12)悬浮在自由流动介质(14)中,以便产生研磨颗粒流动介质混合物;和
输送研磨颗粒流动介质混合物(12、14)通过孔(20),以便抛光孔壁(22)。
2.按权利要求1的方法,其特征在于,许多研磨颗粒(12)包括含有研磨颗粒的开孔聚氨基甲酸酯。
3.抛光多孔物品的抛光系统包括:
研磨颗粒成分(12);
与研磨颗粒成分混合的载体介质(14),以便产生研磨颗粒载体介质混合物;和
输送(16、24)研磨颗粒载体介质混合物(12、14)通过带孔物品(18)中由孔壁(22)确定的孔(20)的装置,以便改善空气流量和物品的有效冷却效果。
4.按权利要求3的抛光系统,其特征在于,研磨颗粒成分(12)包括含有研磨颗粒的开孔聚氨基甲酸酯。
5.按权利要求4的抛光系统,其特征在于,研磨颗粒(12)具有质量和速度。
6.按权利要求3的抛光系统,其特征在于,研磨颗粒(12)主要去除孔壁(22)的高部位。
7.按权利要求3的抛光系统,其特征在于,载体介质(14)包括自由流动介质。
8.按权利要求3的抛光系统,其特征在于,输送研磨颗粒流动介质混合物的装置包括一回流泵(24),以便持续搅拌研磨颗粒载体介质混合物(12、14)。
9.按权利要求8的抛光系统,其特征在于,输送研磨颗粒流动介质混合物的装置还包括回流管线(26),以便建立闭合的回路系统并在载体介质(14)中持续使用研磨颗粒(12)。
10.按权利要求9的抛光系统,其特征在于,回流管线(26)还有助于载体介质(14)中研磨颗粒(12)悬浮。
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