[实用新型]自动移相抗干扰介损测试仪无效
| 申请号： | 99239860.6 | 申请日： | 1999-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN2391204Y | 公开（公告）日： | 2000-08-09 |
| 发明（设计）人： | 陈邦栋 | 申请（专利权）人： | 上海思源电气有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 上海交通大学专利事务所 | 代理人： | 毛翠莹 |
| 地址： | 200240*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动 抗干扰 测试仪 | ||
1、一种自动移相抗干扰介损测试仪，其特征在于采用的抗干扰电子回路包括隔离变压器、抗干扰信号处理电路、自动移相处理电路及放大、滤波、整流等电路，并采用单片机CPU及D/A转换电路，完成自动移相抗干扰功能，隔离变压器的输出经可调电阻R1连接到抗干扰信号处理电路的输入端，抗干扰信号处理电路的输出连接到自动移相处理电路，自动移相处理电路的输出Ug与取样信号URb连接到放大器IC5的输入端，IC5的输出Us经放大、滤波、整流、A/D转换电路，连接到CPU，CPU控制调整D/A转换电路的输出E、F，反馈到自动移相处理电路。
2、一种如权利要求1所说的自动移相抗干扰介损测试仪，其特征在于所说的抗干扰信号处理电路包括IC1、IC2两个放大器，IC1的输出经分压电阻R4、R5分压得到B点输出UB，IC1的输出经IC2移相放大，再经分压电阻R6、R7分压得到C点输出UC，UB与UC分别连接到自动移相处理电路。
3、一种如权利要求1或2所说的自动移相抗干扰介损测试仪，其特征在于所说的自动移相处理电路包括两个线性模拟乘法器IC3、IC4，其B、C点输入来自抗干扰信号处理电路，其E、F点输入来自D/A，其输出U1、U2经R9、C3和R12、C4组成的两个低通滤波器，以及R10、R11和R13、R14组成的两个分压网络，连接到程控放大器IC6，得到IC6的输出Ug。
4、一种如权利要求1所说的自动移相抗干扰介损测试仪，其特征在于采用的CPU为8031单片机，A/D转换器采用ICL7109，D/A转换器采用四片DAC0832组成两路16位D/A转换。
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