[发明专利]测试供电系统的改进的电源触点

说明书

本发明涉及测试供电系统的改进的电源触点。具体地，本发明公开了只需一维推力来建立接触的用于测试供电系统的改进的触点。

在典型计算机系统中，设置了称作主板的大型印刷电路板。该主板具有包含子板连接器在内的一定数量的基本部件，能插入子板来为计算机提供不同的性能。该子板可提供诸如对盘驱动器、CD-ROM及调制解调器的接口。

为了测试印刷电路板(主板与子板两者)，将当前的测试组件下推到板上来建立与电源的接触。图1中示出当前测试组件的实例。所示出的测试组件要求在处理器板底部上能接触针脚来建立与测试针脚的电源的接触。如果利用了在处理器板底部不能接触针脚的其它构造，则必须重大地修改当前测试组件以便执行该处理器板的测试。

本发明公开了一种改进的测试系统。这一测试系统包括印刷电路板与测试组件，其中该印刷电路板具有包含一个表面及安装在其上面的一组电源垫片的塑料底座。该组电源垫片的第一表面可耦合在印刷电路板的一个表面上的导体上，而该组电源垫片的第二表面可利用来通过塑料底座上的开口的电耦合。将该测试组件垂直下推到印刷电路板上直到该组电源垫片的第二表面与电源接触为止，这样将印刷电路板电耦合到电源上。

从附图与详细描述中，本发明的其它特征与优点将是显而易见的。

在附图中用示例而非限制的方式说明本发明，附图中相同的标号表示相同的件，其中：

图1示出当前测试组件的实例；

图2A示出改进的供电系统的示意图；

图2B示意性示出多芯片模块的垫片延伸到dc到dc转换器接触表面的方式；

图2C示出所要求保护的发明的另一实施例；

图3示出必须对图1的测试组件作出改变来适应改进的供电系统的测试；

图4A示出印刷电路板连同测试组件与测试插座的侧视图；

图4B示出印刷电路板的底视图，其中包含覆盖该印刷电路板的底部的塑料底座。

公开了只需要一维推力来建立接触的用于测试供电系统的改进的触点。在下面的详细描述中，为了提供对本发明的彻底理解，陈述了许多特定细节。然而，对于本技术中的普通人员显而易见没有必要用这些特定的细节来实践本发明。在其它实例中，公知的结构、接口与过程并未详细示出，以便不必要地冲淡本发明。

图2A为改进的供电系统的示意图。三个基本元件为主板11、电力消耗模块13及DC到DC电力转换器15。图2B示出按照一个实施例的配置的侧视图。具体地，图2B示意性地示出(不按比例)多芯片模块的垫片33与35延伸至DC到DC转换器接触表面39与41上的方式。图2C示出所要求的发明的另一实施例，它带有延伸到DC到DC转换器接触表面60与63上的附加垫片50与55。这一改进的供电系统的进一步细节可＿＿＿在提交的(代理人摘录号42390.P4488)具有序号No.＿＿＿的共同未决专利申请中找到。

按照这些实施例，利用当前的测试组件是不容易测试垫片33、35、50与55的。具体地，诸如图1中所示的下推到电路板上的测试组件并不允许垫片33、35、50与55与测试电源进行接触。反之，必须设计与垫片进行侧面接触的新组件来测试电力触点，同时继续下推到电路板上来继续测试针脚上的信号，如在先有技术的板构造中。所需的新组件的实例示出在图3中。为了利用它们来测试具有上述改进的构造的电路板，这一新组件要求修改所有当前的测试组件。这很清楚是昂贵与费时的解决方法。因此，希望能有改进的测试触点，允许利用当前可获得的测试组件来测试具有各式各样构造的电路板。

图4A-B示出用于测试具有上述改进构造的电路板的改进的系统。图4A示出印刷电路板连同测试组件与测试插座的侧视图。图4B为印刷电路板的底视图，它包含覆盖该印刷电路板的底部的塑料底座。按照这一实施例，去掉了覆盖印刷电路板的底表面的塑料底座的一些部分，从而产生了使所示的电源垫片能接近的开口。电源垫片通过开口电耦合在测试插座的电源触点上，从而允许测试电源垫片触点。

按照这一实施例，当前可获得的测试组件可继续使用。具体地，如图4中所示，将电源垫片放在印刷电路板底部，可将当前的测试机构或组件继续下推到印刷电路板上，以便建立与电源的接触。然而，与用针脚建立接触的先有技术方法不同，按照这一要求的发明，接触是用电源垫片代替进行的。按照一个实施例，将这些电源垫片设计成具有改进的电特征，诸如低电感。通过紧密地间隔开极性相反的电源垫片，便能达到明显改进的(即更低的)电感。虽然改进的测试系统是在上面描述为与具有上述构造的电路板一起使用的，只需要一维推力的改进的测试系统也可与其它电路板构造一起使用。

从而，公开了只需一维推力来建立接触的用于测试供电系统的改进的触点。这里所描述的特定布置与方法只是为了例示本发明的原理。本技术中的普通技术人员可以不脱离本发明的范围而作出许多形式上与细节上的修改。虽然已对具体地较佳实施例示出了本发明，但不应认为是这样限定的。反之，本发明只受所附权利要求书的范围的限定。