[发明专利]距离变化检测方法及距离变化检测装置、聚焦控制方法及聚焦控制装置、以及全反射光检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及进行例如光学系统·被照射体(例如光学记录媒体等)之间的距离变化的检测及该距离的控制的距离变化检测方法、距离变化检测装置、聚焦控制方法、聚焦控制装置、以及全反射光检测方法，特别适合应用于设置了使立体遮蔽透镜、立体遮蔽反射镜等之类的数值孔镜变大的光学装置的光学系统。

背景技术

通过使激光束缩小到直径一定的微小光点后照射在光学记录媒体的记录面上，能进行对光盘信息的记录和再生。

为了在记录面上照射这样形成的光点直径一定的激光束，必使用来激光束聚焦的物镜和光盘间的距离位于能使物镜的聚焦位置与记录面的偏移收敛在物镜的焦深的范围内。

因此，在进行光盘再生(在改写型光盘的情况下记录及再生)的光盘激励装置和光盘原盘的暴光装置中，检测物镜·光盘间距离的变化，根据该检测结果使物镜沿着激光束的光轴方向移动，进行该距离的控制(聚焦控制)。

迄今，作为该聚焦控制方法，虽然采用了例如离轴法、非点象差法、刀刃法等，但这些方法都是利用来自光盘的信号记录面的反射光检测物镜·光盘间距离变化的方法。

但是，近年来，为了适应光盘的高密度化的需要而使光点直径更加微小，通过使形成切掉球形透镜的一部分的形状的高折射率的透镜即立体遮蔽物镜(SIL)介于物镜和光盘之间，并使球面和其相反侧的表面分别朝向物镜和光盘，能实现比物镜本身的数值孔径大的数值孔径(例如比1大的数值孔径)。另外，采用立体遮蔽反射镜(SIM)也能实现大的数值孔径。

而且，在数值孔径比1大的情况下，因为如果SIL·光盘间的距离超过近场(激光的波长左右的范围)，则照射在光盘上的激光束的强度显著降低，所以需要进行使该距离在近场范围内呈一定的聚焦控制。

但是，在近场这样的非常狭小的范围内，因为即使改变SIL·光盘间的距离，来自光盘的反射光的变化也很微小，所以根据该反射光的变化而高精度地检测物镜·光盘间距离的变化是困难的。

因此，在使SIL介于物镜和光盘之间的情况下，难以用现有的聚焦控制方法进行高精度的聚焦控制。

在获得光盘等信息记录媒体用的原盘制作的暴光装置等的光束照射装置中，也有同样的问题。

本发明的目的在于提供一种距离变化检测方法、距离变化检测装置、聚焦控制方法、聚焦控制装置、以及全反射光检测方法，在设置了使SIL、SIM之类的使数值孔径变大的光学装置的情况下，这些方法及装置能高精度地检测SIL或SIM与光盘间距离的变化，而进行高精度的聚焦控制。

发明的公开

本发明提出了一种距离变化检测方法，该方法是检测光学系统中的第2光学装置和光学记录媒体之间的距离变化的方法，上述光学系统具有使应照射在记录媒体上的光聚焦的第1光学装置、以及为了实现比第1光学装置的数值孔径大的数值孔径而介于第1光学装置与光学记录媒体之间的第2光学装置，在上述距离变化检测方法中，检测以数值孔径比规定值大的入射角从第1光学装置入射到第2光学装置后在第2光学装置中与光学记录媒体相对的面上反射的反射光，根据该反射光的光量检测距离的变化。

在该距离变化检测方法中，用立体遮蔽透镜或立体遮蔽反射镜作为第2光学装置，能检测以数值孔径比1大的入射角从第1光学装置入射到第2光学装置后在与第2光学装置中与光学记录媒体相对的面上反射的反射光。

本发明提出了一种距离变化检测装置，该装置是检测光学系统中的第2光学装置和光学记录媒体之间的距离变化的装置，上述光学系统具有使应照射在记录媒体上的光聚焦的第1光学装置、以及为了实现比第1光学装置的数值孔径大的数值孔径而介于第1光学装置与光学记录媒体之间的第2光学装置，上述距离变化检测装置备有：检测以数值孔径比规定的值大的入射角从第1光学装置入射到第2光学装置后在第2光学装置中与光学记录媒体相对的面上反射的反射光的光检测装置；以及根据该光检测装置检测的反射光的光量，检测上述距离的变化的检测装置。

在该距离变化检测装置中，用立体遮蔽透镜或立体遮蔽反射镜作为第2光学装置，利用光检测装置能检测以数值孔径比1大的入射角从第1光学装置入射到第2光学装置后在第2光学装置中与光学记录媒体相对的面上反射的反射光。