[发明专利]记录介质和记录装置及记录方法

说明书

本发明涉及一种数据记录介质，记录装置和用于将信息记录到数据记录介质上的记录方法。

用于向存储介质上光记录信息，尤其是数字数据的数据记录装置通常被用做便捷的大容量数据存储装置。

相变光盘为一种类型的光数据记录介质。为了向相变光盘记录信息，半导体激光器向旋转光盘发射光束，以加热和熔化盘上的记录膜。通过控制激光束的功率，可对熔化膜的温度和冷却过程(冷却率)进行调节，从而降低记录膜中的相变。

当激光功率高时，记录膜从高温状态快速冷却，从而变为无定形。当发射相对较低功率的激光束时，记录膜从中温状态逐渐冷却，从而结晶。记录膜所形成的无定形部分就为通常所说的“标记”，而在任意的两个标记之间的结晶部分为通常意义上的“空间间隔”。利用这些标记和间隔，可对二-值二进制信息进行记录。当用于形成标记的所发射的激光束被设置为高功率时，激光器工作在“峰值功率”。当激光器在低功率发射激光形成间隔时，激光器工作在所谓的“偏置功率”电平。

在数据再现期间，所发射的激光束功率电平足够低，不会引发相变，然后对其反射进行检测。通常来自无定形标记的反射率很低，而来自结晶间隔(区域)的反射较高。因此，通过检测由标记和间隔所反射的光之间的差别可产生读取信号。

同样可使用标记位置记录方法(简称为PPM)或标记边缘记录方法(简称为PWM)将数据记录到相变盘上。通常标记边缘记录方法的记录密度较高。

标记边缘记录与标记位置记录方法相比，其可记录更长的标记。当激光器在峰值功率向相变盘发射激光时，在记录膜中累积的热量导致在盘的径向上标记的宽度向着标记的端部增加，在直接重写记录方法中，这将导致部分标记未被重写，或被完全擦除，从而在再现期间由于磁道之间的信号交叉而使信号质量降低。

通过缩短所记录的标记和间隔的长度同样可增加记录密度。当间隔缩短超过某个点时，会产生热干扰。此热干扰会使得在所记录的标记后沿处的热量传递到后续的间隔，从而对下一个标记的始端的热分布造成影响。在某个记录标记始端的热量同样可回流到前面的间隔，并对前面标记的冷却过程造成负面影响。当在传统的记录方法中产生此种的热干扰时，前沿和后沿的位置会产生位移，从而会增大数据再现期间的增大出错率。

针对此问题，日本未审查专利公开H07-129959(U.S.专利号5,490,126和5,636,194)记述了一种记录方法，将标记边缘记录中的用于形成标记的信号划分为三个部分，即一个恒宽起始部分，一个中间部分，该部分具有周期恒定的脉冲，和一个恒宽结束部分，然后在形成标记期间，通过快速切换二-值激光束的输出，而用此信号驱动记录。

通过此方法，长标记的中间部分的宽度基本上是恒定的，由于用恒定周期脉冲电流激励激光器的输出，从而该宽度也不会扩展，其中所述的恒定周期脉冲电流产生形成标记所需的最小的功率。由于向标记的前沿和后沿端部发射恒定宽度的激光束，所以在直接重写记录方法中，在标记的前沿和后沿的波动不会增大。

同样可检测标记前后的标记或间隔的长短，并根据标记和前沿及后沿间隔的长度改变位置，在该位置记录标记的前沿和后沿部分。通过此方法可补偿在记录期间由于热干扰所造成的峰值位移。

然而，在日本专利申请5-279513中却未描述用于确定标记的前沿和后沿部分的最优位置的方法。

如果未确定优化前沿和后沿位置的方法，则优化记录的可靠性会降低。另外，即使实现了优化记录，在搜索优化位置时也会耗费太多的时间，且增大电路的成本。

根据所记录的数据对标记的前沿和后沿的位置进行改变的方法同样可作为实现高密度数据记录的手段。然而，此方法的一个问题在于，由于如上所述的热干扰，所记录的标记的边缘会产生移动。这种边缘的移动同样与盘的格式及记录膜的结构密切相关，如果无法消除这些变化，则无法实现最优的记录。

考虑到上述的问题，本发明的一个目的在于提供一种方法和装置，其可容易的确定每个标记的前沿和后沿的最优位置，从而在盘格式、记录膜成分和记录装置等特性发生变化时，也可获得最优的记录效果。

为了实现这些目的，根据本发明的第一方面，数据记录介质具有多个同心的或螺旋的磁道，用于记录用标记和标记之间的间隔所表示的信息，通过向磁道记录表面发射由多个驱动脉冲调节的光束而形成标记，同时根据记录到磁道上的原始信号中的标记部分的长度对驱动脉冲数进行调节，所述数据记录介质包含：

一个用于记录数据的数据记录区，和

一个特定的信息记录区，用于在将数据记录介质装入到特定的记录装置中时进行记录；