[发明专利]带自校正的微流体控制器和检测器系统

权利要求书

1．一种微流体控制器和检测器系统，其特征在于包含：

包含至少两个相交通道和检测区的流体芯片；

包含与至少两个相交通道接触的接口的材料导向系统；

具有放置在检测区附近的物镜的光学模块；以及

与光学模块耦合并适于接收和分析光学模块数据的控制系统。

2．如权利要求1所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于接口为包含至少三个电极的电学接口，每个电极配置为与由至少两个相交通道形成的不同相交侧面上的至少两个相交通道的其中一个电学接触。

3．如权利要求2所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于流体导向系统进一步包括外罩，至少三个电极与外罩连接以在外罩处于闭合位置时与至少两个相交通道电学接触。

4．如权利要求1所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于光学模块进一步包括光检测器以检测从导向区经物镜发射的光。

5．如权利要求1所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于光检测器选自光电二极管、雪崩光电二极管、光电倍增管、二极管阵列、成像系统和电荷耦合器件。

6．如权利要求1所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于光检测器与控制系统通信并且光学模块进一步包括位于来自检测区的光所经过的光检测器附近的检测器透镜组件。

7．如权利要求6所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于光学块进一步包括：

使光经物镜射向检测区的光源；以及

反射光源产生的光并且从检测区经物镜发射光的镜子。

8．如权利要求1所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于光学块进一步包括可以使光经物镜射向检测区的光源。

9．如权利要求8所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于光源选自激光器、激光二极管和发光二极管。

10．如权利要求8所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于进一步包括固定装置，用于使来自光源的光经物镜聚焦在检测区上。

11．如权利要求10所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于固定装置包括第一和第二邻近平板、转轴和使第一平板相对第二平板围绕转轴位移的致动器。

12．如权利要求11所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于固定装置包含两个致动器，每个使第一平板相对第二平板围绕转轴沿不同方向位移。

13．如权利要求11所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于致动器包含与耦合器耦合的步进电机，耦合器与第一平板耦合并且与第二平板可移动接触。

14．如权利要求13所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于耦合器限定了围绕其的螺纹并且第一平板限定了通过其上的开口，开口具有内部螺纹，与耦合器的螺纹啮合。

15．如权利要求13所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于第二平板包括适于与耦合器接触的硬质底座。

16．如权利要求1所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于接口为包含至少三个通道电极的电学接口，每个电极与至少两个相交通道的其中一个电学接触，系统进一步包括基准电极，用于校正至少三个通道电极。

17．如权利要求1所述的微流体控制器和检测器系统，其特征在于接口为适于与真空泵接口的端口。

18．一种校正多个电源通道的方法，其特征在于包括以下步骤：

在基准通道上产生第一电学基准信号；

将第一电学基准信号施加在每个电源通道上以在每个电源通道上产生第一电源信号；

在每个基准和电源通道上测量第一电学值；

在基准通道上产生第二电学基准信号；

将第二电学基准信号施加在每个电源通道上以在每个电源通道上产生第二电源信号，第二电学基准信号和第二电源信号与第一电学基准信号和第一电源信号各不相同；

在每个基准和电源通道上测量第二电学值；以及

确定读取校正因子作为第一和第二测量基准值之差与第一与第二测量源值之差的比率的函数。