[发明专利]光波导的制作方法无效

专利信息
申请号: 99814429.0 申请日: 1999-12-01
公开(公告)号: CN1330772A 公开(公告)日: 2002-01-09
发明(设计)人: J·P·德雷克 申请(专利权)人: 博克汉姆技术股份有限公司
主分类号: G02B6/30 分类号: G02B6/30
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 钱慰民
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 波导 制作方法
【权利要求书】:

1.一种用于处理波导结构的方法,其中波导结构包括:

硅衬底,它具有一集成的肋形波导,波导具有一个带小平面的端部,此端部悬伸出硅衬底,并在其下侧具有一层从波导小平面伸出的氧化物层,还具有一层在波导上表面和小平面上延伸的氮化物层,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

i)执行氧化物蚀刻步骤,从下侧去除氧化物层;

ii)执行氧化物生长步骤,在下侧的外露硅上形成一层新的氧化物层,所述新的氧化物层在小平面处终止;

iii)执行氮化物蚀刻步骤,去除氮化物层;以及

iv)沉积一层新的氮化物层,它在上表面和小平面上延伸,但不突出在小平面之外,从而在小平面上制成氮化硅。

2.按照权利要求1所述的方法,其特征在于,波导结构在小平面上有一层不希望有的氧化物层,并且该方法在步骤(iii)之后包括一附加步骤(v),即去除所述不希望有的氧化物层。

3.按照权利要求1或2所述的方法,其特征在于,步骤(iv)是一个敷层沉积步骤。

4.按照权利要求1,2或3所述的方法,其特征在于,控制新的氮化物层的厚度,以便控制小平面的光学性能。

5.一种用于在硅-绝缘体晶片上制作波导结构的方法,其中所述波导结构包括一硅衬底,一层在硅衬底顶上的氧化物层,以及一层在氧化物层顶上的外延硅,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

在外延层上限定一个肋形波导;

在波导端部,蚀刻位于肋形波导任何一侧的外延层,以暴露出掩埋氧化物层;

相继在肋形波导上沉积氧化物层和氮化物层;

底切端部,在硅衬底中形成V型槽,便于将一光纤和波导结构对准,所述底切步骤留下一部分不希望有的掩埋氧化物,其延伸到肋形波导小端面之外;以及

用权利要求1-4中任何一项限定的方法来处理波导结构。

6.一种用于处理波导结构的方法,其特征在于,所述方法基本上如前参考附图所述和如附图所示。

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