[发明专利]多端口器件分析装置和方法以及该装置的校准方法

摘要

一种多端口器件分析装置,包括信号源,多个测试端口,多个测量单元,基准信号测量单元,多个终端电阻器,开关装置,把测试信号有选择地提供给一个测试端口(输入端口),使终端电阻器不连接具有测试信号的测试端口(输入端口),同时使终端电阻器连接所有其它的测试端口;其中,在不改变测试端口和DUT终端之间连接的情况下,获得多端口DUT的参数,同时改变测试端口的选择,直至所有测试端口都被指定为输入端口。

主权项

1、一种用于测试具有多个端子的多端口器件的多端口器件分析装置，包括：信号源，用于提供一测试信号到受测试的多端口器件(DUT)的一端子；多个测试端口，用于将多端口DUT的所有端子连接到对应的测试端口；多个测量单元，用于测量来自与多端口DUT的对应的端子连接的对应测试端口的信号；一基准信号测量单元，用于测量该测试信号，以获得相对于由该多个测量单元测得的来自测试端口的信号测量值的基准数据；多个终端电阻器，每个被分配到一个测试端口；开关单元，用于有选择地将测试信号提供到测试端口之一(输入测试端口)并断开该终端电阻器与该输入测试端口的连接而将该终端电阻器连接到所有其他的测试端口；其中多端口DUT的参数的获得不需要改变测试端口与DUT的端子间的连接，而由开关单元改变测试端口的选择直到所有测试端口都被分配作为输入测试端口。