[发明专利]评估颗粒状物体质量的装置和方法

摘要

评估颗粒状物体质量的一种方法,包括有选择地从颗粒状物体的前面和背面照射上述物体;从每个被照射物体的前、后两侧提取反射光和透射光图像;对反射光和透射光图像进行图像处理而获得每个物体的光学信息;由此获得颗粒状物体的形状信息;根据光学信息和形状信息确定每个物体的质量,包括完整和不完整的颗粒状物体的质量;计算每一种质量物体的数量,并获得每一种质量占颗粒状物体总数的比例;由光学信息制备出物体的采样图像。

主权项

1.用来评估颗粒状物体质量的一种方法，该方法包括以下步骤：有选择地从上述颗粒状物体的前面和背面照射上述颗粒状物体；从每个被照射的颗粒状物体的前、后两侧提取一个反射光图像和一个透射光图像；通过对上述反射光图像和上述透射光图像进行图像处理而获得每个上述颗粒状物体的光学信息；根据上述光学信息获得上述颗粒状物体的形状信息；根据上述光学信息和上述形状信息确定每个上述颗粒状物体的质量，上述颗粒状物体的质量包括完整和不完整的颗粒状物体的质量；计算每一种质量的颗粒状物体的数量，并且获得每一种质量的颗粒状物体相对于颗粒状物体总数的比例；通过对上述光学信息进行处理制备出每一种质量的上述颗粒状物体的采样图像；以及同时显示或是打印每一种质量的颗粒状物体各自的数量，每一种质量的颗粒状物体的上述比例，以及颗粒状物体的上述采样图像。