[发明专利]激光的力学参数测量方法及其装置无效
| 申请号： | 00112403.X | 申请日： | 2000-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN1334443A | 公开（公告）日： | 2002-02-06 |
| 发明（设计）人： | 李银妹 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 中国科学技术大学专利事务所 | 代理人： | 赵乌兰 |
| 地址： | 230026*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种能够演示光力学性质的激光力学参数测量方法及其装置。本发明参数测量方法是将一束连续TEMoo模激光束经过耦合元件射入一个强会聚效果的透镜,产生强光场梯度分布在样品室内形成光阱,使微粒在光阱中沿X－Y平面运动和沿光束方向运动,改变样品室移动的速度,就可得出微粒在光阱的作用下通过媒质的临界回复力。本发明装置由循环操作器、激光器、显微镜、CCD摄像头、录像机和监视器构成。本发明的优点是采用单光束力光阱,设备简单可靠。辅助微流量装置,可实现对力的定性了解和半定量测量以加深学生对光阱力的直观认识和PN量级的概念。整套设备简单造价不高,易于普及。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 力学 参数 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种激光力学参数测量方法，其特征在于将一束连续TEMoo模激光束经过耦合元件射入一个强会聚效果的透镜，产生强光场梯度分布在样品室内形成光阱，移动样品室，使微粒在光阱中沿X-Y平面运动和沿光束方向运动，改变样品室移动的速度，就可根据公式F＝6πηrV得出微粒在光阱的作用下通过媒质的临界回复力。
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