[发明专利]用于表面形貌测量的位移传感器无效

专利信息
申请号: 00114436.7 申请日: 2000-03-20
公开(公告)号: CN1264824A 公开(公告)日: 2000-08-30
发明(设计)人: 卢圣凤;李柱 申请(专利权)人: 华中理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 华中理工大学专利事务所 代理人: 方放,杨为国
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 用于表面形貌测量的位移传感器,固定部分由壳体内的激光器、偏振分光镜、λ/4波片、位移装置及与其相联接的物镜、聚焦透镜、光电转换器及自动聚焦控制电路组成可拆卸测头包括触针——反射镜测杆;测量精度高、工作稳定可靠、使用灵活,在一台仪器上同时能进行接触和非接触测量,降低仪器成本,可广泛用于研究和工业现场。
搜索关键词: 用于 表面 形貌 测量 位移 传感器
【主权项】:
1.一种用于表面形貌测量的位移传感器,包括激光器和依次置放在光路上的偏振分光镜、λ/4波片、位移装置及与其相联接的物镜,所述偏振分光镜与光路成45°角,正对偏振分光镜与光路垂直放置聚焦透镜、其焦点处放置光电转换器,光电转换器与自动聚集控制电路、驱动电路、所述位移装置顺序通过电信号联接,上述各组成部分均固定于一壳体内,其特征在于:(1)所述壳体正对光路和物镜处开有通光孔,(2)在通光孔处通过螺纹或紧固螺钉联接可拆卸测头,(3)可拆卸测头由管状外壳及其内部一端带有触针、另一端固接反射镜的测杆构成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中理工大学,未经华中理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00114436.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top