[发明专利]成对不对称的扫描体层厚度的设定方法及其设备无效

专利信息
申请号: 00117963.2 申请日: 2000-06-03
公开(公告)号: CN1276193A 公开(公告)日: 2000-12-13
发明(设计)人: 贯井正健 申请(专利权)人: 通用电器横河医疗系统株式会社
主分类号: A61B6/02 分类号: A61B6/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 陈景峻
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种成对不对称扫描体,扫描在多重检测器的第一检测器区中以第一体层厚度进行,在第二检测器区中以不同于第一体层厚度的第二体层厚度进行。为此,先移动X线束的位置,保持宽度不变,使其等于第一体层厚度的两倍,从而使X线束移到第一和第二检测器排的计数值彼此相当的位置。存储此时的检测器排计数值。移动X线束的位置,保持X线束的宽度不变,使其等于第一和第二体层厚度之和,使X线束移到第一检测器排的计数值与存储的计数值匹配的位置。
搜索关键词: 成对 不对称 扫描 厚度 设定 方法 及其 设备
【主权项】:
1.一种成对不对称扫描体层厚度的设定方法,供在多重检测器的第一检测器排中以第一体层厚度进行扫描,在第二检测器排中以不同于所述第一体层厚度的第二体层厚度进行扫描,包括下列步骤:移动穿透射线束的位置,在进行扫描的同时保持穿透射线束的宽度不变,使其始终等于所述第一体层厚度的两倍,从而使穿盘射线束移到所述第一和第二检测器排的计数值彼此相匹配的位置,存储此时的检测器排计数值,然后移动穿透射线束的位置,在进行扫描的同时保持穿盘射线束的宽度不变,使其始终等于所述第一和第二体层厚度之和,从而使穿透射线束移到所述第一检测器排的计数值与所述存储的计数值相匹配的位置。
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