[发明专利]导电性导线上的微细短路引起的接触不良检测方法无效
申请号: | 00120180.8 | 申请日: | 2000-07-20 |
公开(公告)号: | CN1281990A | 公开(公告)日: | 2001-01-31 |
发明(设计)人: | 金相焕 | 申请(专利权)人: | 株式会社裕林技研 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 微细短路引起的瞬间接触不良的测定及诊断还没有有效的解决方法。本发明的目的在于提出一种微细短路引起的瞬间接触不良检测方法,用于解决上述现有技术的问题。本发明为了判断是否有微细短路引起的接触不良,在要测定的导电性导线上的两端间施加电信号后,测定上述两端间的电信号的变化,与基准值进行比较。此时,上述电信号是能够测定、而且测定值能够与基准值进行比较的任何种类的电信号,最好是电压值。 | ||
搜索关键词: | 导电性 导线 微细 短路 引起 接触 不良 检测 方法 | ||
【主权项】:
1、一种接触不良检测方法,检测导电性导线上的微细短路引起的接触不良,包含下述步骤:将引线固定到要检查的导电性导线上的两端部并使其电接触;向上述导电性导线上供给电流后,测定上述两引线间的电压差;上述测定出的电压差被输入到微处理器,上述微处理器判断上述测定出的电压差是否位于特定范围的误差内;如果上述判断结果是位于上述特定范围的误差内,则将上述测定出的电压差作为测定基准值来设定并存储;向上述导电性导线上施加振动;测定上述两引线间的电压差,输入到上述微处理器;上述微处理器比较测定出的两引线间的电压差和已经存储的测定基准值:如果上述比较结果是两个值的差异在特定范围以内,则判断为由于测定器自身的误差或测定环境的噪声等而测定出的电压值,指示重新测定两引线间的电压差;如果上述比较结果是两个值的差异在特定范围以上,则判断为导电性导线上的微细短路引起的接触不良;如果判断为上述导电性导线上的微细短路引起的接触不良,则上述微处理器为了向用户通知该事实,向另外的显示装置输出特定出错信号;上述显示装置从上述微处理器输入上述特定出错信号,作为用户能够识别的形态的信号向用户通知出错发生。
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