[发明专利]薄窗正比管探测器的制作方法无效

专利信息
申请号: 00135430.2 申请日: 2000-12-22
公开(公告)号: CN1297156A 公开(公告)日: 2001-05-30
发明(设计)人: 谷正海;毛建萍;张仁健;宫一忠;顾福源 申请(专利权)人: 中国科学院紫金山天文台
主分类号: G01T1/18 分类号: G01T1/18;H01J47/06
代理公司: 中国科学院南京专利事务所 代理人: 栗仲平
地址: 210008*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 薄窗正比管探测器的制作方法包括以下工作步骤将聚丙烯薄膜用热顶伸法延伸,成为厚度1μm左右的超薄薄膜;在超薄薄膜上喷镀超薄金属层;用热溶胶将超薄薄膜紧密地粘接在正比计数管的窗口上;在窗口上设置双层薄膜支撑网;将超薄聚丙烯膜上的金属层接地。超薄金属膜的厚度为100-150A。本方法制作的探测器窗口材料达到1μm的极薄,并具有很大面积、良好的强度和气密性,为射电天文学观察γ暴提供了理想的观测仪器。
搜索关键词: 正比 探测器 制作方法
【主权项】:
1、一种薄窗正比管探测器的制作方法:包括以下工作步骤:将聚丙烯薄膜用热顶伸法延伸,使其厚度均匀地拉薄到1μm左右,成为超薄薄膜;在超薄薄膜上喷镀超薄金属层;用热溶胶将超薄薄膜紧密地粘接在正比计数管的窗口上;在正比计数管窗口上设置薄膜支撑网;将超薄聚丙烯膜上的金属层接地。
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