[实用新型]内存芯片或模块的组装结构无效

专利信息
申请号: 00250720.X 申请日: 2000-08-24
公开(公告)号: CN2445549Y 公开(公告)日: 2001-08-29
发明(设计)人: 陈汉平 申请(专利权)人: 陈汉平
主分类号: H05K13/00 分类号: H05K13/00;H01L21/82
代理公司: 北京三友专利代理有限责任公司 代理人: 李强
地址: 台湾省*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种内存芯片或模块的组装结构,包括有一至多个组装数据线、组装地址线、组装控制线;第一群和第二群的两组各至少一个内存次组装,每个次组装都含有一至多个次组装数据线、次组装地址线和次组装控制线;一个内存存取控制单元其中第一群和第二群的内存次组装都至少包含一个部分损坏的次组装;第二群内存次组装占用与第一群内存次组装部份或全部重叠的内存地址区域;其中该内存存取控制单元依照内存地址区域,在恰当的时段周期,引动第一群内存次组装或第二群内存次组装。
搜索关键词: 内存 芯片 模块 组装 结构
【主权项】:
1、一种内存芯片或模块的组装结构,其特征在于:其包括有:(a)一至多个组装数据线;(b)一至多个组装地址线;(c)一至多个组装控制线;(d)第一群至少一个内存次组装,每个次组装含有一至多个次组装数据线,一至多个次组装地址线,和一至多个次组装控制线;(e)第二群至少一个内存次组装,每个次组装含有一至多个次组装数据线,一至多个次组装地址线,和一至多个次组装控制线;(f)一个内存存取控制单元;其中第一群内存次组装至少包含一个部分损坏的次组装;其中第二群内存次组装也至少包含一个部分损坏的次组装;其中第二群内存次组装占用与第一群内存次组装部份或全部重叠的内存地址区域;其中该内存存取控制单元依照内存地址区域,在恰当的时段周期,引动第一群内存次组装或第二群内存次组装。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陈汉平,未经陈汉平许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/00250720.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top