[发明专利]变形检测装置有效
申请号: | 00812542.2 | 申请日: | 2000-06-23 |
公开(公告)号: | CN1399715A | 公开(公告)日: | 2003-02-26 |
发明(设计)人: | 弗朗兹·罗特纳;西格弗里德·皮珀;R·温克勒 | 申请(专利权)人: | 英诺特克欧洲股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16;G01D5/30 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 苏娟 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于检测一个元部件(1)的各种不同状态如变形状态、运动和载荷状态的装置,它具有一个发送器(2)和一个接收器(3),它们是相互独立的,彼此间隔地布置在至少一个元部件上,还有一个分析处理单元(4),其中发送器(2)发射电磁波(例如一种激光)或者一种聚焦的基本粒子射线束至接地器(3)。通过在一个反光镜上和在一个半透明的反光镜(9)上的多重反射能够提高空间分辨率。 | ||
搜索关键词: | 变形 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.用于检测一个元部件(1)的各种不同的状态,如变形状态、运动和载荷状态的装置,它有一个发送器(2)和一个接收器(3),它们是相互独立地,彼此间隔开地布置在至少一个元部件上,同时还有一个分析处理单元(4),其特征在于,发送器(2)发射出一种电磁波或者一种聚焦的声波或者一种聚焦的基本粒子射线束至接收器(3)。
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