[发明专利]具有改善了电流的输入耦合性能的表面结构光辐射二极管有效

专利信息
申请号: 00813471.5 申请日: 2000-09-21
公开(公告)号: CN1376315A 公开(公告)日: 2002-10-23
发明(设计)人: R·韦斯;K·斯特罗伊贝尔 申请(专利权)人: 奥斯兰姆奥普托半导体股份有限两合公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 赵辛
地址: 德国雷*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 由一个发光层(20)和一个比较厚的透明的电流耗散层(30)构成的光辐射二极管(100)发出的光信号的输出因电流耗散层(30)表面的垂直结构而得到了改善,与此同时因第二个电接触层(asecondelectricalcontactlayer,einezweiteelektrischeKontaktschicht)(50)有一个分布式侧面的结构,(adistributedlateralstructure,eineverteiltelateralestruktur)而使得电流耗散层(30)中电流的输入耦合基本实现了均匀。
搜索关键词: 具有 改善 电流 输入 耦合 性能 表面 结构 光辐射 二极管
【主权项】:
1.光辐射二极管(100)包括:——一个半导体式结构,其构成有,一个衬底(10),和至少一个位于衬底(10)之上的发光层(20)和一个置于发光层(20)之上的透明的电流耗散层(30),——一个位于衬底背面上的第一电接触层,和——一个安置在电流耗散层(30)上面的第二电接触层(50),其特征是,——电流耗散层(30)的表面具有一种垂直的结构方式(40),用于改善光的输出耦合,和——第二电接触层(50),具有旁侧式结构,利用它可实现电流耗散层(30)中电流基本均匀的输入耦合。
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