[发明专利]痕量级气体分析装置和方法无效
| 申请号： | 01102340.6 | 申请日： | 2001-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN1316645A | 公开（公告）日： | 2001-10-10 |
| 发明（设计）人： | 佐藤右一 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G01N30/04 | 分类号： | G01N30/04;G01N30/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 刘晓峰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种痕量级气体分析装置，具有收集大气中气体组分的扩散洗涤器11，和将空气导入扩散洗涤器11的取样管10，该装置设置利用清洁液流22清洁扩散洗涤器11和取样管10的清洁装置。 | ||
| 搜索关键词： | 痕量 气体 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种痕量级气体分析装置，包含：一个扩散洗涤器，用于收集大气气体组分；一个取样管，用于将所收集的大气气体组分导入所述的扩散洗涤器；清洁装置，用于利用清洁液流清洁所述的扩散洗涤器和所述的取样管。
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