[发明专利]半导体存储器件无效

专利信息
申请号: 01104073.4 申请日: 2001-02-21
公开(公告)号: CN1310477A 公开(公告)日: 2001-08-29
发明(设计)人: 长野能久;那须彻;森慎一郎;藤井英治 申请(专利权)人: 松下电子工业株式会社
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L27/108
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的半导体存储器件的存储电容器2,由下部电极8、电容绝缘膜9、上部电极12构成,其下部电极8由第1阻挡膜6和第2阻挡膜7组成。第1阻挡膜6,由从上层开始的Ir膜/TiAlN膜/Ti膜的叠层膜组成。第2阻挡膜7,由从上层开始Pt膜/IrO2膜的叠层膜形成,是为了完全覆盖第1阻挡膜6而设置的。据此,能够阻滞来自第1阻挡膜6的侧面的氧扩散,就能够防止因连接柱11氧化而发生的接触不良。
搜索关键词: 半导体 存储 器件
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,具有存储数据用的存储电容器,该存储电容器由与连接柱相连接的第1电极、第2电极和介于第1电极与第2电极之间的电容绝缘膜构成,其特征在于:所述第1电极包含有与所述连接柱相接触的第1阻挡膜和设置在所述第1阻挡膜上具有防止氧扩散功能的第2阻挡膜,所述第2阻挡膜是覆盖在所述第1阻挡膜的上面和侧面。
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