[发明专利]一种对硅/锗合金的硅化学选择腐蚀方法无效
申请号: | 01108247.X | 申请日: | 2001-02-27 |
公开(公告)号: | CN1140654C | 公开(公告)日: | 2004-03-03 |
发明(设计)人: | 施毅;郑有炓;汪峰;刘建林;陆阳;吴军;张荣;顾书林;胡立群;韩平;江若琏;朱顺明 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | C23F1/24 | 分类号: | C23F1/24;C23F1/02 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 | 代理人: | 陈建和 |
地址: | 210093*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种对硅/锗合金的硅化学选择腐蚀方法,采用NH4OH溶液对硅/锗合金的硅进行化学选择性腐蚀。NH4OH溶液浓度控制在5-25%,腐蚀温度在60~85℃之间。此方法不仅具有很高的选择腐蚀比,而且与常规微电子集成电路工艺兼容,且溶液无毒、还具有工艺简单等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 合金 化学 选择 腐蚀 方法 | ||
【主权项】:
1、一种对硅/锗合金的硅化学选择腐蚀方法,其特征是采用NH4OH溶液对硅/锗合金的硅进行化学选择性腐蚀,NH4OH溶液的浓度控制在5-25%,腐蚀温度在60-85℃之间。
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