[发明专利]光学图像传感集成电路的单片规模封装有效
申请号: | 01110911.4 | 申请日: | 2001-02-28 |
公开(公告)号: | CN1315743A | 公开(公告)日: | 2001-10-03 |
发明(设计)人: | R·R·福斯特 | 申请(专利权)人: | 全视技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/98;H01L23/28 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王勇,陈景峻 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了光学图像传感器集成电路的一种单片规模封装。微透镜放在一个上面制作了图像传感器的晶片上。一种粘合料放在晶片的顶上。粘合料有与晶片上有微透镜的传感器阵列对齐的开口。然后将一个护罩玻璃放在粘合剂上面,粘合剂被激活后将护罩玻璃与晶片粘着起来。因为粘合剂有开口在有微透镜的部分上面,所以不会有粘合剂引起的畸变或透镜作用的减弱。 | ||
搜索关键词: | 光学 图像 传感 集成电路 单片 规模 封装 | ||
【主权项】:
1、一种方法,包括:将微透镜加到一个晶片上,上述晶片包括多个图像传感器集成电路,上述微透镜加到上述图像传感器集成电路的一个传感阵列部分上;将一种粘合料加到上述晶片的顶上,上述粘合料包括多个开口,当上述粘合料加到上述晶片上时这些开口的位置与上述传感阵列部分对应;并且将一个护罩玻璃加到上述粘合料的顶上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于全视技术有限公司,未经全视技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01110911.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电力系统保护控制系统
- 下一篇:制备高纯度HFC-125的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
- 彩色图像和单色图像的图像处理
- 图像编码/图像解码方法以及图像编码/图像解码装置
- 图像处理装置、图像形成装置、图像读取装置、图像处理方法
- 图像解密方法、图像加密方法、图像解密装置、图像加密装置、图像解密程序以及图像加密程序
- 图像解密方法、图像加密方法、图像解密装置、图像加密装置、图像解密程序以及图像加密程序
- 图像编码方法、图像解码方法、图像编码装置、图像解码装置、图像编码程序以及图像解码程序
- 图像编码方法、图像解码方法、图像编码装置、图像解码装置、图像编码程序、以及图像解码程序
- 图像形成设备、图像形成系统和图像形成方法
- 图像编码装置、图像编码方法、图像编码程序、图像解码装置、图像解码方法及图像解码程序
- 图像编码装置、图像编码方法、图像编码程序、图像解码装置、图像解码方法及图像解码程序