[发明专利]在基于事件的测试系统上用于存储器测试的模块化结构

摘要

一种具有模块化结构的基于事件的测试系统,用于同时测试多个半导体器件,包括存储器和逻辑器件。该基于事件的测试系统检测被测存储器中的功能故障及物理故障。该基于事件的测试系统包括两个或多个测试器模块,每一模块具有多个引脚单元;一个用于容纳两个或多个测试器模块的主机;一个用于电连接测试器模块和被测器件的测试固定装置;一个用于控制该测试系统的整体运行的主计算机;及一个用于存储算法测试模式库与用于产生存储器测试模式的软件工具的数据存储器,该测试模式用于测试嵌入被测器件中的存储器或独立存储器。每一个测试器模块相互独立地工作。在测试存储器前,通过主计算机指定存储器测试算法和被测存储器的相关信息。

主权项

1、一种基于事件的测试系统，用于测试半导体器件，该系统包括：两个或多个测试器模块，每一模块具有多个引脚单元，其中每一引脚单元对应被测半导体器件(DUT)的一个器件引脚；一个主机，用于在其中容纳两个或多个测试器模块；一个设置在该主机上的测试固定装置，用于电连接测试器模块和被测器件DUT；一个主计算机，通过与测试器模块的连接而控制该测试系统的整体运行；及一个可由该主计算机存取的数据存储器，用于存储一个算法测试模式库和用于产生存储器测试模式的软件工具，该存储器测试模式用于测试被测器件DUT中的嵌入式存储器或是独立存储器；其中，每一个测试器模块相互独立地工作，在测试嵌入式存储器或独立存储器之前，在主计算机中指定存储器测试算法和与被测存储器有关的信息。