[发明专利]检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备有效
| 申请号： | 01116201.5 | 申请日： | 2001-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN1320922A | 公开（公告）日： | 2001-11-07 |
| 发明（设计）人： | 高祯完;郑铉权 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B20/12;G11B7/00 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于检验盘记录和再现设备采用次缺陷列表(SDL)变换不认证地进行再初始化时是否正常产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法及采用该方法的测试设备。该方法包括步骤用具有测试基准信息的测试盘,在记录和再现设备中不认证地进行再初始化,之后从所产生缺陷管理信息中产生测试信息;将从测试基准信息得到的基准信息与测试信息比较,并提供对测试信息的检验结果。因此,用户能在短时间内测试给定盘记录和再现设备的DMA产生或更新功能并节省生成和提供测试盘的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 检验 缺陷 管理区 信息 方法 执行 测试 设备 | ||
【主权项】：
1、一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备的产生或更新DMA信息功能的方法，该方法包括下列步骤：采用具有测试基准信息的测试盘，在记录和再现设备中进行再初始化而不进行认证，并在再初始化之后从所产生的缺陷管理信息中产生测试信息；和将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。
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