[发明专利]校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备无效
| 申请号： | 01116270.8 | 申请日： | 2001-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN1321977A | 公开（公告）日： | 2001-11-14 |
| 发明（设计）人： | 高祯完;郑铉权 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/10 | 分类号： | G11B20/10;G11B20/18 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种校核盘记录和再现设备以读或写模式正常分析缺陷管理区(DMA)信息的方法,以及实施该方法的测试设备。该方法包括利用带有测试基准信息的测试盘以读或写模式操作记录和再现设备;和校验记录和再现设备是否以读或写模式操作以校核该记录和再现设备的DMA信息分析功能。因此,可以测试以读或写模式进行的盘记录和再现设备的DMA信息分析功能。 | ||
| 搜索关键词： | 校核 缺陷 管理区 信息 方法 进行 测试 设备 | ||
【主权项】：
1．一种校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区(DMA)信息分析功能的方法，该方法包括：利用带有测试基准信息的测试盘以读或写模式操作记录和再现设备；和校验记录和再现设备是否以读或写模式操作以校核记录和再现设备的DMA信息分析功能。
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