[发明专利]光盘缺陷管理区信息的验证方法无效
| 申请号： | 01116272.4 | 申请日： | 2001-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN1323032A | 公开（公告）日： | 2001-11-21 |
| 发明（设计）人： | 高祯完;郑铉权 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/10 | 分类号： | G11B20/10;G11B20/18 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种验证光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法,验证在在测试模式下,用于在/从带有DMA信息的光盘记录/重现信息的记录和重现装置执行了测试DMA信息生成和更新过程后,DMA信息被正确生成和更新。该方法包括读取并通过使用预先设定的用于测试模式的参考DMA信息,验证生成或更新的DMA信息,并提供验证的结果。因此,容易验证该记录和重现装置通过使用带有预定的与实际缺陷无关的缺陷信息的不同的测试光盘,而不使用实际具有缺陷的光盘,并通过执行各种测试模式,准确地生成或记录缺陷信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光盘 缺陷 管理区 信息 验证 方法 | ||
【主权项】：
1．一种验证在测试模式下，用于在带有DMA信息的光盘中记录信息或从带有DMA信息的光盘中重现信息的记录和重现装置中执行了测试DMA信息生成和更新过程后，DMA信息被正确生成和更新的方法，该方法包括：读取所生成或更新的DMA信息；和通过使用预先设定的用于测试模式的参考DMA信息，验证生成或更新的DMA信息，并提供验证的结果。
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