[发明专利]品质原因量度显示有效
申请号: | 01116490.5 | 申请日: | 2001-04-28 |
公开(公告)号: | CN1322070A | 公开(公告)日: | 2001-11-14 |
发明(设计)人: | L·F·古姆 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;H04B1/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨松龄 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了一种品质原因量度显示,它通过产生一个标准的数字调制的RF发射机信号而形成。检测仪器用于测量发射机信号的一个总体品质量度,以及每一个发射机参数的单独影响。每一个测量的参数用于修正标准发射机信号,并运用品质量度运算法则来确定品质量度。单独参数品质量度与总体品质量度进行比较,以确定每一个参数对总体品质量度的影响百分比。操作者从影响百分比中可以知道,当总体品质量度超过极限时,在发射机信号中什么产生了问题。 | ||
搜索关键词: | 品质 原因 量度 显示 | ||
【主权项】:
1.一种品质原因量度显示方法,包括以下步骤:产生一个标准信号;通过多个测量的参数中的每一个单独修正该标准信号,以产生一个修正的信号;对每一个参数的修正信号运用一个总体品质量度运算法则,以产生对总体品质量度的单独影响图表;和将单独影响与测算的总体品质量度比较,以产生每一个参数对测算的总体品质量度的影响的百分比,而用于显示。
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