[发明专利]电子自旋分析器无效
| 申请号： | 01116778.5 | 申请日： | 2001-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN1322004A | 公开（公告）日： | 2001-11-14 |
| 发明（设计）人： | 武笠幸一;池田正幸;末岡和久;武藤征一;上远野久夫;上田映介 | 申请（专利权）人： | 北海道大学 |
| 主分类号： | H01J47/00 | 分类号： | H01J47/00;H01J49/08 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李德山 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 半球形加速电极具有由内加速电极和外加速电极组成的双重结构。内加速电极具有内引入入口和内开孔,外加速电极具有外引入入口和外开孔。内引入入口的孔径角最好比外引入入口的孔径角大0.1～5°。内开孔的孔径角最好比外开孔的孔径角大0.1～5°。此外,散射电子检测器分别具有校正电极,并被布置在偏离电子的引入方向100～140°的方向上。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 自旋 分析器 | ||
【主权项】：
1．一种电子自旋分析器，它包含电子束发生装置，与电子束发生装置的电子束射出孔相对的半球形加速电极，支承加速电极的电极支承件，位于加速电极外表面上的散射电子检测器，在加速电极内，在电极支承件上设置的散射靶，加速电极具有由内加速电极和外加速电极构成的双重结构，内加速电极具有内引入入口，外加速电极具有外引入入口，内引入入口大于外引入入口。
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