[发明专利]动态随机存取内存的缺陷修护及状态显示的方法

摘要

本发明有关一种动态随机存取内存的缺陷修护及状态显示的方法,主要是透过一监督程序定时激活测试,当测试发现有缺陷的存储页面,监督程序将持续冻结该被测试存储页面,且任何存取至该存储页面的动作均将依据对应缓冲表而改变至预定的备份存储页面,并驱动LCD将诸如测试频率、完整报告、发现错误、内存利用总和及实际内存大小等讯息显示出,使DRAM不因错误而能维持正常存取及高度的资料完整件。

主权项

1.一种动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法，其特征在于：主要是由一监督程序经常性地检查动态随机存取内存(DRAM)的各个存储页面内存资料完整性的运作状态，并予以实时回复维持正常运作，包括有下列步骤：a.预定一备份的存储页面以作为测试页面资料的暂存地址；b.每一个测试周期开始后，被测试存储页面内存资料复制至前述备份存储页面；c.建立一对应缓冲表用以指出被测试存储页面与预定的备份存储页面的相对映位置；并透过对应缓冲表将被测试存储页面重配置至预定的备份存储页面，使存取动作改变至备份存储页面；d，若测试无误，将备份存储页面内存资料回存至被测试存储页面，并且重新开放其存取动作，及继续下一个存储页面的测试；e.若测试发现有错误，监督程序将持续冻结该被测试存储页面，且任何存取至该被测试存储页面的动作均将依据对应缓冲表而改变至预定的备份存储页面；f.显示组件显示测试结果。