[发明专利]检测装置无效
| 申请号： | 01120288.2 | 申请日： | 2001-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN1335632A | 公开（公告）日： | 2002-02-13 |
| 发明（设计）人： | 味田广二;佐藤功;坂仓洋太郎 | 申请（专利权）人： | 阿尔卑斯电气株式会社 |
| 主分类号： | H01H25/00 | 分类号： | H01H25/00 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所 | 代理人： | 刘激扬 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种检测装置,可以使由阻抗器件和可弹性变形元件构成的若干个可变型阻抗器件VRa至VRf与共用型固定阻抗器件Ra相连接,位于上述可变型阻抗器件与固定型阻抗器件间的中点处作为共用输出通路Sm与模拟/数字(A/D)转换电路相连接。通过将连接在各可变型阻抗器件处的连接部Ga、Gb、Gc、……依次切换至接地电位处的方式,可以依据各可变型阻抗器件的阻抗值变化,依次由上述共用输出通路Sm处获得相应的电压输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种检测装置，其特征在于设置有呈若干段形式的输入组件，各输入组件中作为阻抗值可变的元件与固定型阻抗器件串联连接，并且取位于上述元件与上述固定型阻抗器件间的中间部作为输出部，而且还设置有使呈若干段形式的输入组件上的一个端部位于预定电位，并且将各输入组件上的另一端部依次切换至低电位处用的切换组件，从而使上述输入组件由上述切换组件切换至上述低电位处，并且对由上述输入组件上的上述输出部给出的输出信号实施检测。
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