[发明专利]光信息介质及其制造、记录或重放方法以及检查方法有效
| 申请号： | 01124331.7 | 申请日： | 2001-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN1338737A | 公开（公告）日： | 2002-03-06 |
| 发明（设计）人： | 小卷壮;平田秀树;加藤达也 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/24 | 分类号： | G11B7/24;G11B7/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 陈昕 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在支持基片上具有信息记录层、在该信息记录层上具有透光层、通过该透光层照射记录或重放用的激光的光信息介质中,减小激光光斑直径并且提高在线速度大时的记录/重放特性。作为一种在支持基片上具有信息记录层、在该信息记录层上具有透光层、通过该透光层入射记录或重放用的激光来使用的光信息介质,所述透光层由树脂构成,拉伸破坏强度为5～40MPa,拉伸破坏伸长率为15～100%,拉伸弹性系数为40～1000MPa。 | ||
| 搜索关键词： | 信息 介质 及其 制造 记录 重放 方法 以及 检查 | ||
【主权项】：
1.一种在支持基片上具有信息记录层、在该信息记录层上具有透光层、通过该透光层入射记录或重放用的激光来使用的光信息介质，所述透光层由树脂构成，拉伸破坏强度为5～40Mpa，拉伸破坏伸长率为15～100％，拉伸弹性系数为40～1000Mpa。
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