[发明专利]检测摆动缺陷的设备和方法有效
| 申请号： | 01124488.7 | 申请日： | 2001-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN1362706A | 公开（公告）日： | 2002-08-07 |
| 发明（设计）人： | 严佑植 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B7/004;G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种利用从光记录介质检测的摆动信号检测摆动模式中的缺陷的设备和方法,当在光记录介质上记录数据时,如果摆动模式中存在缺陷,则对相应缺陷区进行核验。该设备包括锁相环(PLL),当施加来自摆动模式的摆动信号时,生成锁相环摆动信号和摆动时钟信号;窗信号发生器,当施加锁相环摆动信号和摆动时钟信号时,根据预定窗宽条件生成指示摆动窗时段的信号;摆动锁定/开锁检测器,当施加摆动窗信号和摆动信号时,根据预定摆动锁定和开锁条件输出检测摆动锁定状态和开锁状态之一的信号;和摆动缺陷检测器,当施加检测锁定状态和开锁状态之一的信号、摆动窗信号和摆动信号时,根据预定缺陷判定条件检测在摆动模式中是否存在缺陷。因此,使将数据记录在缺陷区上导致的损失降到最低程度。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 摆动 缺陷 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测包含在光记录介质上的摆动模式中的缺陷的设备，所述设备包括：锁相环(PLL)，当施加来自摆动模式的摆动信号时，生成锁相环摆动信号和摆动时钟信号；窗信号发生器，当施加锁相环摆动信号和摆动时钟信号时，根据预定窗宽条件生成指示摆动窗时段的信号；摆动锁定/开锁检测器，当施加摆动窗信号和摆动信号时，根据预定摆动锁定和开锁条件输出检测摆动锁定状态和开锁状态之一的信号；和摆动缺陷检测器，当施加检测摆动锁定状态和开锁状态之一的信号、摆动窗信号和摆动信号时，根据预定缺陷判定条件检测在摆动模式中是否存在任何缺陷。
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