[发明专利]射频自动切换批量测试方法无效
| 申请号： | 01126297.4 | 申请日： | 2001-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN1399138A | 公开（公告）日： | 2003-02-26 |
| 发明（设计）人： | 王莉;陈国炜;马骎;沈立军 | 申请（专利权）人： | 上海大唐移动通信设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28;H04B17/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 陈亮 |
| 地址： | 200231 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种射频自动切换批量测试方法，所述方法包括以下步骤读取用户设定的待测指标；根据用户设定的待测指标控制测试设备进行测试；将测试得到的原始数据读入计算机，从所述原始数据中挑选与所述被测指标相关的数据，并对所述数据进一步处理、计算、分析得出结论，生成测试报表。射频自动切换批量测试方法在一定程度上解决了射频器件的测试指标多、需要接入大量接头、人工干预多、测量每一项指标都需要人工选择测试通道、测试速度慢等方面的缺点。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 自动 切换 批量 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种射频自动切换批量测试方法，所述方法包括以下步骤：1〕将多个被测元件与开关阵列相连接；2〕读取用户设定的待测指标；2〕根据用户设定的待测指标控制测试设备进行测试；3〕将测试得到的原始数据读入计算机，从所述原始数据中挑选与所述被测指标相关的数据，并对所述数据进一步处理、计算、分析得出结论，生成测试报表。
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