[发明专利]光学近接修正的方法无效
申请号: | 01129289.X | 申请日: | 2001-06-20 |
公开(公告)号: | CN1392453A | 公开(公告)日: | 2003-01-22 |
发明(设计)人: | 林顺利 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F7/22;G03F1/08 |
代理公司: | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人: | 王学强 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种光学近接修正的方法,适用于高数值孔径的微影工艺,其中曝光光源含有偏振方向互相垂直的P偏振光与S偏振光,且P偏振光的穿透系数大于S偏振光。此方法针对图形指向不同的各个图案,分别使用不同的光学近接修正模式进行修正,其中在修正任一图案时,考虑P偏振光与S偏振光的穿透系数的比值,以及此图案的图形指向与P偏振光/S偏振光的偏振方向的夹角。 | ||
搜索关键词: | 光学 修正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种适用于微影工艺的光学近接修正的方法,该微影工艺使用一具有P偏振光与S偏振光的曝光光源,其特征为:还使用具有复数个图案的一光罩,其中该P偏振光的穿透系数(TransmissionCoefficient)大于该S偏振光,且任选两个图案的图形指向互异,该方法包括:考虑该P偏振光的穿透系数与该S偏振光的穿透系数的比值,以及每一该些图案的图形指向与该S偏振光/该P偏振光的偏振方向的夹角,分别使用不同的一光学近接修正模式修正每一该些图案。
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