[发明专利]罩幕式只读存储器的制造方法有效
申请号: | 01129594.5 | 申请日: | 2001-06-28 |
公开(公告)号: | CN1393925A | 公开(公告)日: | 2003-01-29 |
发明(设计)人: | 薛正诚 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8246 | 分类号: | H01L21/8246 |
代理公司: | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人: | 王学强 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种罩幕式只读存储器的制造方法,首先在一基底上形成埋入式位线,再在基底上形成栅极介电层与字符线,其中字符线与埋入式位线垂直。此时位于一对埋入式位线之间,并位于一条字符线下方的部分的基底作为一存储单元。接着在基底上覆盖第一介电层,再在第一介电层中形成数个编码窗口,位于部分的存储单元的上方。然后在编码窗口下方的存储单元中植入一离子,再在基底上形成第二介电层以填满所有编码窗口。 | ||
搜索关键词: | 罩幕式 只读存储器 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种罩幕式只读存储器的制造方法,其特征在于:包括下列步骤:提供一基底;在该基底第一方向上形成复数条埋入式位线;在该基底上形成复数个栅极介电层,并在第二方向上形成复数条字符线,而位于该些埋入式位线之间,且以该等字符线下方的该基底部分作为复数个存储单元;在该基底上覆盖一第一介电层;在该第一介电层中形成复数个编码窗口,该些编码窗口位于一预定部分的该等存储单元的上方;在该些编码窗口的侧壁形成复数个间隙壁;以该第一介电层与该些间隙壁为罩幕,在该些编码窗口下方的该些存储单元中植入一离子;在该基底上形成一第二介电层以填满该些编码窗口。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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