[发明专利]半导体激光器老化筛选设备和筛选方法无效

专利信息
申请号: 01129827.8 申请日: 2001-10-26
公开(公告)号: CN1389963A 公开(公告)日: 2003-01-08
发明(设计)人: 马军;唐宽平;何德毅;邱海波;陈良惠;孙睦光;张浩先 申请(专利权)人: 惠州市中科光电有限公司
主分类号: H01S5/00 分类号: H01S5/00;H01L21/66
代理公司: 广州粤高专利代理有限公司 代理人: 陈卫
地址: 516023 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种半导体激光器老化筛选设备和基于该设备的老化筛选方法,在设备的控制待测器件发光的功率控制电路中采用数字电位器,并通过单片机对数字电位器的自动调控,然后将结果输入单片机和计算机,实现了半导体激光器件老化筛选过程的自动化,为工业化大批量生产后的筛选分级提供了基础。
搜索关键词: 半导体激光器 老化 筛选 设备 方法
【主权项】:
1、一种半导体激光器老化筛选设备,包括:一台计算机,用于控制单片机、读取单片机中暂存器的测量数据并形成每个被测半导体激光器的性能曲线;一个单片机,用于控制被测激光器的工作过程并采集该过程中被测激光器各参数的数据;多个功率控制电路,通过I/O扩展电路受控于所述单片机,以在负反馈回路中采用数字电位器的形式,用于自动调节激光器的工作状态,形成测量数据;一个夹具组,包括固定被检测的激光器的装置;和一个温度控制老化装置。
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