[发明专利]测试电路板的方法和设备无效
| 申请号： | 01132657.3 | 申请日： | 2001-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN1352397A | 公开（公告）日： | 2002-06-05 |
| 发明（设计）人： | G·露兹 | 申请（专利权）人： | ATG试验体系两合公司 |
| 主分类号： | G01R31/308 | 分类号： | G01R31/308;G01R31/309 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 李家麟 |
| 地址： | 联邦德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试电路板的方法,其中的电路板具有导电路径,该导电路径的点构成电路板测试点,该方法至少包含下列步骤光学测试该组电路板测试点中的短路及开路情形,且该光学测试方式可用于各扫描区中相关的导电路径,其中的扫描区中各有一组彼此紧靠的电路板测试点及诸导电路径;及电测试其于电路板测试点及其于导电路径中的短路及开路情形。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路板 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种测试电路板的方法，其中，所述电路板具有导电路径，所述导电路径的端点形成电路测试板测试点，其特征在于，所述方法包含下列步骤：对一组电路板测试点中的短路及开路情形进行光学测试，且所述光学测试方式可用于各扫描区中相关的导电路径，所述扫描区中，各有一组彼此紧靠的电路板测试点及诸导电路径：以及对其余电路板测试点及其余导电路径中的短路及开路情形进行电测试。
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