[发明专利]检测介质厚度变化和/或补偿其引起的球形像差的拾取器有效

专利信息
申请号: 01133018.X 申请日: 2001-09-13
公开(公告)号: CN1361522A 公开(公告)日: 2002-07-31
发明(设计)人: 郑钟三;安荣万;金泰敬;徐偕贞 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B7/12 分类号: G11B7/12;G11B7/135;G11B7/09
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种光学拾取器,其中的光束划分与检测装置,用于划分从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束,该装置被构建成具有分结构的单个光检测器、或光束划分器和多个光检测器,所述光检测器能够考虑到由记录介质的厚度变化引起的光强度分布的变化,划分从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束并检测划分的光束部分。该光学拾取器允许检测记录介质的厚度变化,而无需在该光学拾取器的光接收侧安装散光镜。由记录介质的厚度变化引起的球形像差能够通过使用执行器根据检测的厚度变化信号驱动球形像差补偿单元或校准镜沿着光轴来校正。
搜索关键词: 检测 介质 厚度 变化 补偿 引起 球形 拾取
【主权项】:
1.一种光学拾取器,包括:光源,用于产生和发射光束;物镜,用于聚焦来自光源的入射光以在记录介质上形成光点;和安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器,用于改变入射光束的行进路径,该光学拾取器的特征在于包括:光束划分与检测装置,用于将从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束划分成第一光束部分,并从第一和第二光束部分检测第一和第二检测信号;和厚度变化检测电路,用于通过从第一检测信号中减去第二检测信号来检测记录介质的厚度变化。
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