[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 01133826.1 申请日: 2001-09-26
公开(公告)号: CN1354521A 公开(公告)日: 2002-06-19
发明(设计)人: 松井法晴;森诚一;白田理一郎;竹内祐司;上垣内岳司 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L27/112;H01L29/76;H01L21/82
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杜日新
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 选择门区的半导体装置设有半导体层;形成于半导体层上的第1绝缘膜;形成于第1绝缘膜上的第1电极层;由贯通第1电极层及第1绝缘膜直达半导体层内形成的元件分离绝缘膜构成的元件分离区,元件分离区分离了元件区,与第1电极层自动匹配地形成元件分离区;形成于第1电极层及元件分离区上的第2绝缘膜,第2绝缘膜具有使第1电极层表面露出的开口部;形成于第2绝缘膜上及第1电极层中被露出的表面上的第2电极层,第2电极层通过开口部与第1电极层电连接。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体装置,包括:半导体层;形成于所述半导体层上的第1绝缘膜;形成于所述第1绝缘膜上的第1电极层;由贯通所述第1电极层及所述第1绝缘膜直达所述半导体层内形成的元件分离绝缘膜构成的元件分离区,所述元件分离区分离了元件区,与第1电极层自动匹配地形成所述元件分离区;形成于所述第1电极层及所述元件分离区上的第2绝缘膜,所述第2绝缘膜上具有使所述第1电极层表面露出的开口部;形成于第2绝缘膜上及所述第1电极层中被露出的所述表面上的第2电极层,所述第2电极层通过所述开口部与所述第1电极层电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01133826.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top