[发明专利]双垂直通道薄膜电晶体及其制造方法有效

专利信息
申请号: 01136822.5 申请日: 2001-10-24
公开(公告)号: CN1414640A 公开(公告)日: 2003-04-30
发明(设计)人: 薛英家 申请(专利权)人: 瀚宇彩晶股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336;H01L27/11;H01L21/8244
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 刘朝华
地址: 台湾省*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种双垂直通道薄膜电晶体及其制造方法,包括闸极层形成于基板的表面,第一绝缘层形成于基板及闸极层的表面,半导体层形成于第一绝缘层的表面,使位于两边缘侧的第一绝缘层露出,分别于两侧形成有源/汲极,于垂直于源/汲极的第一绝缘层的两侧表面分别形成通道,通道之间形成掺杂区;第二绝缘层形成于通道及掺杂区的表面,并令半导体层两侧的源/汲极露出;金属层分别形成于源/汲极及露出的第一绝缘层的表面。双垂直通道薄膜电晶体具有双闸极与截距结构,具有大幅降低漏电流,且不需要另外使用额外的光罩来定义通道,降低制造成本、简化制程步骤;缩减通道长度至深亚微米程度,大幅地的提升组件的效能。
搜索关键词: 垂直 通道 薄膜 电晶体 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种双垂直通道薄膜电晶体,其特征是:适用于一基板,包括闸极层形成于该基板的表面;第一绝缘层形成于该基板及闸极层的表面;半导体层形成于该第一绝缘层的表面,并令位于两边缘侧的第一绝缘层露出,分别于两侧形成有源/汲极,且于大抵垂直于该源/汲极的第一绝缘层的两侧表面分别形成有一通道,该通道之间形成一掺杂区;第二绝缘层形成于该通道及掺杂区的表面,并令该半导体层两侧的源/汲极露出;金属层分别形成于该源/汲极及露出的第一绝缘层的表面。
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