[发明专利]用于合成光纤基质的喷嘴检测装置有效

专利信息
申请号: 01145023.1 申请日: 2001-12-30
公开(公告)号: CN1381715A 公开(公告)日: 2002-11-27
发明(设计)人: 香村幸夫;金尾昭博 申请(专利权)人: 古河电气工业株式会社
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/95;G01B11/08;C03B37/023
代理公司: 隆天国际专利商标代理有限公司 代理人: 陈红,潘培坤
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的用于合成光纤基质的喷嘴检测装置能够精确测量用于形成芯的喷嘴和用于形成包层的喷嘴的顶部尺寸。本发明的检测装置具有XY台面、背景照明部分和显微镜。喷嘴放置在XY台面。背景照明部分投影喷嘴顶部的图象,从后部发射光并射向喷嘴。通过管的中空部分的光所投影的图象比通过管壁部分的图象明亮,因此投影喷嘴顶部的截面图象。平面镜部分把该图象反射到显微镜一侧,而且显微镜接收该图象。操作者凝视该显微镜接收的图象以便能够测量喷嘴的尺寸。仅仅通过观察玻璃喷嘴的顶部,不能测量顶部轮廓。通过使用该设备,喷嘴顶部的图象变清晰,使我们能够使用该非接触型装置精确测量喷嘴顶部的尺寸。
搜索关键词: 用于 合成 光纤 基质 喷嘴 检测 装置
【主权项】:
1、一种用于合成光纤基质的喷嘴的检测装置,包括:喷嘴平台,用于放置合成光纤基质的喷嘴;背景照明部分,用于从后部朝位于喷嘴平台上的喷嘴发射光;以及图象接收器部分,用于接收所述喷嘴顶部的图象,所述图象由背景照明部分发射的光形成。
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