[实用新型]晶片测试机的晶片分类装置无效
| 申请号： | 01200270.4 | 申请日： | 2001-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN2463956Y | 公开（公告）日： | 2001-12-05 |
| 发明（设计）人： | 严灿焜 | 申请（专利权）人： | 东捷半导体科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 台湾台南市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种晶片测试机的晶片分类装置,包含有二进料管,顶端连接于晶片测试机上的测试座,底端各设有一阻挡器;一搬运机构,由一轨道、二活动载台、二驱动器所组成,该轨道横向设置于该二进料管的下方,该二活动载台设置于该轨道上而可沿该轨道横向往复移动,该二驱动器设置于该轨道两端,且分别连接于该二活动载台,该二活动载台的底端各设有一阻挡器四出料管,设置于该轨道下方,位于内侧的二出料管对正于该二进料管。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 测试 分类 装置 | ||
【主权项】：
1．一种晶片测试机的晶片分类装置，配合设置于双座晶片测试机上，用来将测试完成的晶片依其良劣加以分类，其特征在于，该处理装置包含有：二进料管，顶端连接于晶片测试机上的测试座，该二进料管的底端各设有一阻挡器；一搬运机构，由一轨道、二活动载台、二驱动器所组成，该轨道横向设置于该二进料管的下方，该二活动载台设置于该轨道上而可沿该轨道横向往复移动，该二驱动器设置于该轨道两端，且分别连接于该二活动载台，该二活动载台的底端各设有一阻挡器；四出料管，设置于该轨道下方，位于内侧的二出料管对正于该二进料管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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