[实用新型]直接投射式光电挠度位移测量装置无效
| 申请号： | 01206766.0 | 申请日： | 2001-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN2532475Y | 公开（公告）日： | 2003-01-22 |
| 发明（设计）人： | 朱永;陈伟民;黄尚廉;符欲梅 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 重庆创新专利事务所有限公司 | 代理人： | 张先芸 |
| 地址： | 400044 重庆市沙*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 直接投射式光电挠度位移测量装置，包括光发射源、光接收器两部分，光接收器为组合结构，由光电接收靶与硬件处理电路组成并设置在同一壳体内由信号线连接成一体；光电接收靶由接收屏、近场透镜、光电阵列探测器组成；硬件处理电路采用数字芯片的模块化结构电路板。它具有结构简单、成本低、不受距离和灰尘的影响等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 直接 投射 光电 挠度 位移 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.直接投射式光电挠度位移测量装置，包括光发射源(1)、光接收器两部分；光接收器为组合结构，由光电接收靶(2)与硬件处理电路(3)组成，并设置在同一壳体内由信号线连接成一体，其特征在于：光电接收靶(2)由接收屏(5)、近场透镜(6)、光电阵列探测器组合(7)组成；接收屏(5)、近场透镜(6)、光电阵列探测器(7)及硬件处理电路(3)依顺序平行排列，安装在壳体内同一基座上；硬件处理电路(3)采用数字芯片的模块化结构电路板。
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