[实用新型]电子元件检测定位装置无效
| 申请号： | 01270581.0 | 申请日： | 2001-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN2518217Y | 公开（公告）日： | 2002-10-23 |
| 发明（设计）人： | 廖木山 | 申请（专利权）人： | 廖木山 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/68;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京科龙环宇专利事务所 | 代理人： | 孙皓晨,王国权 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型是一种电子元件检测定位装置,包括一工作机架、定位座及顶杆装置;该定位座设于该工作机架上,具有一定位槽空间,该定位槽空间至少一侧设有一定位臂,而该定位臂是枢接于该定位座上,其枢接端的另端设有一定位底板,该定位底板位于该定位槽空间的底缘;该顶杆装置设于该定位座的定位槽空间底缘,包括有一顶杆及弹性件,该顶杆是受该弹性件的作用而抵顶于该定位臂的定位底板,藉此,能达到电子元件于该定位槽空间进行操作时,可稳固定位及便利退出的功效。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 检测 定位 装置 | ||
【主权项】：
1、一种电子元件检测定位装置，其特征在于包括：一工作机架；一定位座，设于该工作机架上，其设有一定位槽空间，该定位槽空间至少一侧设有一定位臂，该定位臂是枢接于该定位座上，其枢接端的另端是设有一定位底板，该定位底板位于该定位槽空间的底缘；一顶杆装置，设于该定位座的定位槽空间底缘，包括有一顶杆及弹性件，该顶杆是受该弹性件的作用而抵顶于该定位臂的定位底板。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
